Вис екатеринбург: Купить ВИС (ВИС) в Екатеринбурге, невысокие цены на ВИС на сайте Авто.ру

>

Интернет-каталог одежды и нижнего белья «Vis-à-Vis»

Каталог одежды популярного в России бренда VISAVIS предлагает стильные, изысканные и актуальные вещи по выгодным ценам. Помимо нижнего белья и одежды для отдыха коллекция включает линию женской одежды в нескольких ключевых направлениях:

  • сasual – это практичность, удобство и легкая неформальность, изысканные, сдержанные оттенки, женственные и мягкие линии;
  • оffice – классическое направление, которое благодаря цветовым акцентам в сочетании с лаконичными классическими формами приобретает современную направленность;
  • сasual с элементами этно — одежда для ярких, жизнерадостных, современных образов, которые привлекают внимание своей красочностью и оригинальностью.

Стильная одежда VISAVIS рассчитана на девушек и женщин, которые выбирают практичность, качество и следуют модным тенденциям.

Каталог модной женской одежды 2021: штрихи нового образа

В каталоге, представленном на нашем сайте, можно подобрать стильные джемперы и водолазки, качественные блузки, уютные жакеты и элегантные платья.

Это красивая, удобная и недорогая одежда на каждый день. Благодаря натуральным тканям и продуманному крою наши вещи создают ощущение необыкновенного комфорта, который будет сопровождать вас целый день.

В отличие от многих магазинов модной женской одежды, мы не оставляем без внимания и обладательниц роскошных форм. В нашем каталоге вы сможете подобрать платья и блузки, юбки и жакеты, свитера и брюки больших размеров, которые помогут вам создать привлекательный женственный образ.

Пять главных причин выбрать одежду торговой марки VISAVIS

  • Мы используем комплексный подход к созданию образа, а значит, сочетая и комбинируя одежду из наших коллекций, вы сможете создавать гармоничные ансамбли на каждый день и для особых случаев;
  • Наша аудитория — российские покупательницы, которые стремятся одеваться модно и привлекательно, предпочитая вещи качественного исполнения по доступной цене. Мы работаем именно для вас;
  • В большинстве случаев понравившаяся модель будет в нужном вам размере. Ведь мы предлагаем женскую одежду с 42 по 54 размер включительно;

Приятные моменты уже ждут вас с одеждой от VISAVIS!

грузоперевозки чебурашкой (каблук, минивэн), Соболь, ВИС. Транспортировка малогабаритного груза по области и по России.

«КАБЛУК-ЧЕБУРАШКА» — от 10 руб/км (ТОЛЬКО МЕЖГОРОД)

!ВСЕГДА ДЕШЕВЛЕ ГАЗЕЛИ. ТОЛЬКО МЕЖГОРОД!!!
Любой город России и ближнего зарубежья

Грузотакси из Екатеринбурга по Свердловской области, Уралу и Сибири:


Тюмень, Курган, Челябинск, Пермь, ХМАО-Ханты-Мансийск, ЯНАО-Салехард

ПОГРУЗКА + РАЗГРУЗКА = 1 ЧАС БЕСПЛАТНО. СВЫШЕ — 300 руб/час

ГАЗЕЛЬ 1-1.5 т — 9-10 руб/км (ТОЛЬКО МЕЖГОРОД)

ЭКСПЕДИРОВАНИЕ БЕЗ УЧЁТА — 200 руб/точка

С ПОДСЧЕТОМ, ВЗВЕШИВАНИЕМ — 500 руб/точка

ПОЧЕМУ ЗАКАЗЫВАТЬ ТРАНСПОРТ ЛУЧШЕ У НАС?


   1. СТОИМОСТЬ ПЕРЕВОЗКИ ГРУЗА «КАБЛУКОМ» ВИС-2345 МЕНЬШЕ, ЧЕМ ПРИ ЗАКАЗЕ «ГАЗЕЛИ». Цена на грузоперевозки «Чебурашкой» ниже, чем на перевозки «ГАЗелями», при этом «Каблук» маневреннее на пробках на трассе. Оптимальный вариант для доставки покупок из гипермаркетов домой. Очень выгоден при поездках в область или в соседние области. Ездим даже в Казахстан!
   2. ЕСТЬ ГАЗ-2752 «СОБОЛЬ» ПО ЦЕНЕ КАБЛУКА. Наш «Соболь» берёт груз 800 кг (Д×Ш×В: 1200×1800×1500 мм) и может взять на борт 2х человек кроме водителя, что делает его идеальным транспортом для встречающих/провожающих на вокзалах и аэропортах, при доставке рабочих с инструментом и стройматериалами на объект или при выездах на романтический пикник.
   3. НЕКОТОРЫЕ НАШИ АВТОМОБИЛИ ОСНАЩЁНЫ ИЗОТЕРМИЧЕСКИМИ ФУРГОНАМИ. Толщина цельнометаллической стенки-термоса фургона нашего ВИСа с теплоизолятором — 50 мм. Мы можем возить заморозку летом или фрукты-овощи-воду зимой. В будущем планируем оснастить термобудку нашей «Чебурашки» рефрижератором с режимами холод/тепло для перевозки грузов с температурным режимом (терморежимом) на дальние расстояния. Внутренние габариты изотермического фургона термобудки нашей «Чебурашки»: 1850×1600×1110 мм, грузоподъёмность 600 кг; внутренние полезные габариты грузового отсека микроавтобуса Соболь — 1200×1800×1500 мм, объем кузова — 3.
24 м3, грузоподъёмность — 800 кг. ИЖ-2717, габариты (Д×Ш×В): 1860×1600×1200 мм. Объём: 3.1 м3, грузоподъёмность ИЖ-2717 — 650 кг. ВИДЕО: НАШ АВТОПАРК

   


НАВЕРХ

Муниципальное бюджетное дошкольное образовательное учреждение

 

 


Уважаемые родители, коллеги и гости нашего сайта!

Мы приветствуем вас на страницах сайта


Муниципального бюджетного дошкольного образовательного учреждения —
Детского сада № 462

Мы уверены, что этот сайт поможет Вам познакомиться с информацией о деятельности детского сада.

Мы благодарим тех, кто выбрал именно наш детский сад для получения опыта общения в детском коллективе и первого образования Вашего малыша. И мы будем рады, если в Вашем лице найдем единомышленников, неравнодушных к проблеме воспитания и развития детей. Вы нам доверили своего малыша, самое ценное, что у Вас есть! Малыш волнуется, переживает, нередко горько плачет, переступив порог детского сада.

Необходимо много терпения, доброты, ласки и неподдельной любви, чтобы ребенок понял, почувствовал душой, что его здесь ждут и полюбил свой второй дом –

ДЕТСКИЙ САД!

С помощью сайта Вы сможете узнать о новостях и интересных событиях, происходящих в нашем детском саду, получить информацию о том, какие программы воспитания и обучения детей дошкольного возраста реализуются педагогическим коллективом, задать интересующие Вас вопросы по воспитанию и обучению детей специалистам детского сада, узнать сведения о педагогических работниках, увидеть фото и видеоматериалы увлекательной жизни воспитанников и сотрудников.

Мы рады каждому посетителю! Оставляйте Ваши отзывы и пожелания, мы постараемся прислушаться к разумным и интересным предложениям и замечаниям.

Мы всегда готовы помочь Вам!

 

С уважением, заведующий МБДОУ Минязева Ольга Викторовна

 

 

См. раздел: Сведения об образовательной организации


Полезные ссылки

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Контакты субъектов профилактики

 

жестокого обращения с несовершеннолетними обучающимися:

 

 

Территориальная комиссия Верх-Исетского района по делам несовершеннолетних и защите их прав: 368-35-13, 368-35-16, ул.

Хомякова, 14


Прокуратура Верх-Исетского района: 362-54-33, ул. Белореченская, 5


Отдел полиции № 8 по делам несовершеннолетних: 356-42-08, ул. Белореченская, 5


Управление социальной политики, отдел опеки и попечительства: 368-44-48, ул. Хомякова, 14

Акустик (капсулы N30) ООО ВИС

08:00-22:00

ул. Гагарина, д. 22 / ул. Малышева, д. 113

+7 (343) 289-07-16

247.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

8 800 550-03-93 (горячая линия для консу

247. 20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-22:00

Айвазовского,53

(343) 270-89-73

249.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Краснолесья, д. 10/3

+7 (343) 290-01-04

250.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-22:00

ул. Вильгельма де Геннина, д. 45

+7 (343) 361-31-81

252.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
ПН — ВС 09:00 — 21:00

Вильгельма де Геннина 45

361-31-81

252.30 ₽
18-02-2021 (086)
08:00-21:00

Красных командиров, 27

(343) 331-03-22

257.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Блюхера, 18

374-71-45

299. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Краснофлотцев, д. 24

+7 (343) 286-18-92

300.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Викулова, 38а

242-24-89

326.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Тверитина, д. 19

+7 (343) 385-69-32

326.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Викулова, 46

+7 (343) 232-44-02, +7 (343) 232-44-06

326.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Малышева, д. 7

+7 (343) 376-49-00

327.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Суворовский переулок, д. 3

+7 (343) 385-67-43

329.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

проспект Ленина, д. 95

375-50-89

330.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Бисертская, д. 133

+7 (343) 206-44-25

338.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Тбилисский, 17

218-99-29,

338. 40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Сыромолотова, 24

348-65-38, 347-55-06,

339.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Чкалова, 139

(343) 385-67-32

339.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Саввы Белых, д. 3

+7 (343) 311-21-23

339.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Опалихинская, д. 21

+7 (343) 300-27-67

339.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Техническая, д. 48

+7 (343) 286-58-49

339.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Луначарского, д. 133

+7 (343) 385-67-27

339.80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Белинского, д. 132

+7 (343) 385-67-69

340.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
10:00-22:00

ул. Малышева, д. 5 (ТЦ Алатырь)

+7 (343) 286-58-40

340.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Таганская, д. 8

+7 (343) 336-21-31

340.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Вильгельма де Геннина, д. 34

+7 (343) 300-69-03

340.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Таганская , д. 56

+7 (343) 286-58-24

340.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Инженерная, 31/Черняховского, 47

8 (343) 258-58-07

340. 80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Данилы Зверева , д. 16

+7 (343) 360-09-44

340.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Савкова, д. 7

+7 (343) 216-16-16

341.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Белинского, д. 173

+7 (343) 210-34-04

341.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:30-21:30

Крауля, 82

246-12-01,

341.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Щорса, д. 96

+7 (343) 286-58-29

341.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Викулова, 61/3

(343) 300-29-77

341. 80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Комсомольская, д. 1

+7 (343) 286-18-13

341.80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Восточная, д. 158

+7 (343) 385-71-57

341.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Варшавская, д. 26

+7 (343) 206-15-74

342.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Щербакова, 7

218-34-14, 256-69-10

342.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00 — 21:00

Байкальская, 23

(343) 262-06-16

342.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-22:00

Южногорская, 9

259-02-35

342. 70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Куйбышева, д. 86/1

+7 (343) 261-00-11

342.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Баумана, д. 1

+7 (343) 385-65-02

342.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Сыромолотова, 7

222-67-13

343. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Бахчиванджи, 16

264-40-70 (71),

343.80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

ул. Вильгельма де Геннина, д. 45 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

345.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Белореченская, д.17/1

+7 (343) 234-18-02

345.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Софьи Ковалевской, д. 1

+7 (343) 385-65-16

345.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

проспект Космонавтов, д. 80

+7 (343) 321-29-98

345.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00 — 22:00

Вильгельма де Геннина, 37

(343) 205-94-41

346. 20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Бардина, д. 1а

+7 (343) 240-95-25

347.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Свердлова , д. 22

+7 (343) 385-67-26

347.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Вильгельма де Геннина, д. 31

+7 (343) 216-16-16

350.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Краснолесья, д. 123

+7 (343) 300-19-53

351.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

ул. Восточная, д. 13 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

353.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Шаумяна, д. 100

+7 (343) 361-31-81

355.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Белореченская, 28а

+7 (343) 305-02-04

355.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Луначарского, д. 210Б

+7 (343) 385-65-39

355.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
10:00-22:00

Щербакова, 4 (ТРК Глобус)

+7 (343) 301-55-10

356. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Луначарского, д. 217 / ул. Декабристов, д. 27

+7 (343) 224-10-99

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-22:00

ул. Сибирский тракт 1км, д. 8

+7 (343) 224-10-55

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

проспект Ленина, д. 41 / ул. Толмачева, д. 16

+7 (343) 289-07-14

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

проспект Ленина, д. 70 / ул. Гагарина, д. 18

8 (343) 289-81-79

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
10:00-22:00

ул. Вайнера, д. 10

+7 (343) 301-99-00

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Сыромолотова, д. 14

+7 (343) 385-29-97

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
10:00-22:00

ул. Краснолесья, д. 133 (ТРЦ Академический)

+7 (343) 239-49-93

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Сухоложская, д. 4

+7 (343) 214-77-55

356.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-21:00

Папанина, 7

368-39-98

357. 30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Гагарина, д. 33

+7 (343) 385-65-03

357.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Белинского, 198

8 (343) 210-41-10

360.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
ПН — ВС 09:00 — 21:00

Белинского 163Г

361-31-81

360. 50 ₽
18-02-2021 (086)
08:00-22:00

Арамиль , ул. 1 Мая, д. 27

+7 (34374) 2-86-00

361.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Среднеуральск, Парижской коммуны, 10

8 (34368) 7-35-00

373.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Пехотинцев, д. 10

+7 (343) 385-66-95

373.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
07:30-23:00

ул. 8 Марта, д. 150

+7 (343) 377-72-22

374.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Успенский проспект, 44 (Ленина, 44)

(34368) 5-02-77

375.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Верхняя Пышма, ул. Кривоусова , д. 20

+7 (34368) 5-35-90

376.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Шаманова, д. 21

+7 (343) 300-69-94

381.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-23:00

Уральских рабочих, 28

214-38-01

382.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
9:00-23:00

Ильича, 71

320-39-57, 335-85-34,

382. 60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Старых Большевиков, 91

306-69-60

382.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Бардина, 19

8 (343) 232-02-62

382.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Опалихинская, д. 27

+7 (343) 300-18-58

382.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Березовский, Академика Королева, д. 6А

+7 (343) 286-52-11

382.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Самолетная, д. 43

+7 (343) 286-58-47

383.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Анучина, д. 3

+7 (343) 385-65-47

384.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

проспект Космонавтов, д. 49

+7 (343) 385-67-12

384.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Опалихинская, д. 27 (скидка 5% до 12:00)

8(343) 311-13-22

389.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Краснофлотцев, д. 1а

+7 (343) 300-69-92

391.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Заводская, 17

231-50-06,

391.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Грибоедова, д. 28

+7 (343) 286-58-22

392.80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Крауля, д. 44

+7 (343) 300-27-87

393.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Надеждинская, 8

(343) 366-22-90

394.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Уральская, д. 70

+7 (343) 286-58-26

394.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Машиностроителей, 12

338-77-20

394. 40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Среднеуральск, Куйбышева, 11

(34368) 7-15-95

394.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Луначарского, д. 48

+7 (343) 286-18-06

394.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
9:00-21:00

Викулова,41

200-25-90

395. 00 ₽
19-02-2021 (ЦФИ)
8:00-23:00

Грибоедова, 20

258-65-85, 258-46-41,

395.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Бардина, д. 25/2

+7 (343) 385-72-68

396.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

проспект Космонавтов, д. 53

+7 (343) 251-96-96

396.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Свердлова, 66

354-32-99

398.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Бардина, 48

267-23-02,

398.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

бульвар Денисова-Уральского, д. 16

+7 (343) 300-12-14

398.40 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Высоцкого, 10

+7 (343) 347-54-53, +7 912 696-04-19

398.50 ₽
19-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Верхняя Пышма, Кривоусова, 34

8(34368) 5-94-17

398.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Уральских рабочих, 49

307-80-46

399. 00 ₽
19-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Большакова, 155

+7 (343) 286-57-04

399.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Сухоложская, д. 4

+7 (343) 297-13-28

400.80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-21:00

ул. Вайнера, д. 15А

+7 (343) 361-31-81

403.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Белореченская, 7

234-74-20

403.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Куйбышева, д. 21

+7 (343) 385-82-33

403.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Березовский, Гагарина, 4

(34369) 4-12-11

409. 70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Красных Героев, д. 6а

+7 (343) 385-65-59

409.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Сиреневый бульвар, д. 1

8 800 700-91-19

410.40 ₽
19-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Челюскинцев, д. 19

+7 (343) 385-73-97

413.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Комсомольская, д. 6

+7 (343) 375-31-85

413.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Восточная, 76

262-57-06, 262-31-58,

413.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Родонитовая, 27 (ортопедия 09:00 — 22:00 )

218-59-89

414. 10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Родонитовая, 5

218-60-25, 218-63-87

414.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-23:00

Родонитовая, 12

+7 (343) 220-30-06

414.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Черноморский, 2

331-81-31

415. 10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

Шварца 20/1

218-00-03

420.00 ₽
17-02-2021 (086)

Шварца, 20/1 (круглосуточно)

+7 (343) 218-00-03

420.00 ₽
16-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Верхняя Пышма, Уральских рабочих, д. 48

+7 (34368) 5-86-98

420. 00 ₽
17-02-2021 (ЦФИ)

ул. Вильгельма де Геннина, д. 31 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

425.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

ул. Сулимова, 28/Советская, 59, (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

425.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

ул. Щербакова , д. 7 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

425. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Билимбаевская, 28

(343) 322-90-80

428.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
00:00-24:00

+7 (343) 289-00-30

429.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:30-22:00

Металлургов, 87

(343) 379 22 20

429. 70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Посадская, д. 45

+7 (343) 286-18-05

432.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Уральская, 61

369-48-08, 369-41-21

437.80 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Вайнера, 60

+7 (343) 286-20-99

437. 90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
9:00-21:00

доставка осуществляется течении 4ч с момента подтвержд. зак

216-16-16

444.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Гагарина, 6

(343) 375-84-74

444.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Санаторная, 3

256-46-47

449. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Луначарского, 78

370-75-97,

453.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

проспект Ленина, д. 54/5

350-20-31, 350-41-69

457.00 ₽
19-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

проспект Ленина, д. 5/1

+7 (343) 371-19-31

457.52 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Малышева, д. 146

+7 (343) 286-18-19

465.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:30

Селькоровская, 60 (работают под заказ)

+7 (343) 256-87-87

469.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

ул. 8 Марта, д. 118 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

469.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. 8 Марта , д. 120

+7 (343) 385-67-62

469.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

Военная, 6

210-88-67,

474.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Бебеля, 138

373-00-64

476. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Сиреневый бульвар, 1

348-79-67

488.30 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

ул. Техническая, д. 36

+7 (343) 300-60-23

490.70 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Военная, 22 (работает стол заказов)

+7 (343) 346-35-81

491. 00 ₽
19-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Братская, 4

(343) 210-85-15

496.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Мичурина, д. 212

+7 (343) 297-42-02

502.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
00:00-24:00

ул. Вильгельма де Геннина, д. 34 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

504.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

Березовский, Шиловская, 19

(34369) 4-20-18, 4-54-06,

504.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

проспект Ленина, д. 58

+7 (343) 385-65-34

512.10 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

проспект Ленина, д. 24

(343) 289-00-00

514.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

ул. Малышева, д. 146 (круглосуточно)

+7 (343) 289-00-00

515.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
07:00-22:00

ул. Куйбышева, д. 57

+7 (343) 289-00-00

519.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-21:00

проспект Ленина, д. 69/3 ( вход с ул. Луначарского)

358-93-98

527.90 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Белинского, 84

257-01-20

529.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-23:00

Победы, 5

330-08-96,320-59-21,216-16-16

532.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
8:00-22:00

Победы, 53

330-77-80

537. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-22:00

8 Марта, 179а

(343) 266-53-77

538.60 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Амундсена, 68

+7 (343) 232-00-98, +7 (343) 232-00-98

559.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

проспект Ленина, д. 48

+7 (343) 289-07-11

559.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Санаторная, д. 8

+7 (343) 239-59-57

559.20 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-21:00

ул. Библиотечная, д. 43 (бронирование, возможна доставка) (Аптечный гипермаркет » Диолла » — www.диолла.рф)

+7 (343) 214-46-46

564.50 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Волгоградская, 45

(343) 232-02-61

587. 00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

Блюхера, 47А

(343) 360-40-48

596.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

8 800 700-88-88 (звонки по России беспл.

602.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
08:00-21:00

ул. Латвийская, д. 18

+7 (343) 385-67-05

630.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)
09:00-23:00

ул. Победы, д. 38

+7 (343) 289-00-00

715.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

8 800 250-24-26 (кругл., звонки по Росси

783.00 ₽
20-02-2021 (ЦФИ)

Посольство и консульство США в России

Посольство и консульства США в России в настоящее время не могут возобновить обычные иммиграционные и неиммиграционные визы. Мы возобновим обычные визовые услуги как можно скорее, но не можем указать конкретную дату. Если у вас срочное дело и вам необходимо немедленно отправиться в путь, следуйте инструкциям на странице https://ustraveldocs.com/ru, чтобы узнать, как запросить экстренную встречу.

Посольство США в Москве и Генеральное консульство в Екатеринбурге в настоящее время обрабатывают ограниченное количество продлений визы для отказа от собеседования для получения виз C1 / D, F, M, P1 и P-4. Чтобы узнать, как подать заявку, посетите https://ustraveldocs.com/ru. .

Цель вашей предполагаемой поездки и другие факты будут определять, какой тип визы требуется в соответствии с иммиграционным законодательством США. Как заявитель на визу вам необходимо будет подтвердить, что вы соответствуете всем требованиям для получения визы той категории, на которую вы подаете заявление.

См. Наш Справочник категорий виз на usvisas.state.gov, чтобы определить, какая категория виз может подойти для вашей цели поездки в США.

Что такое виза?

Гражданин иностранного государства, желающий въехать в Соединенные Штаты, обычно должен сначала получить визу США, которая помещается в паспорт путешественника, проездной документ, выданный страной гражданства путешественника.

Некоторые иностранные путешественники могут иметь право на въезд в Соединенные Штаты без визы, если они соответствуют требованиям для безвизовых поездок.Раздел Visa на этом веб-сайте посвящен визам в США для иностранных граждан для въезда в Соединенные Штаты.

(Примечание: гражданам США не нужна виза для путешествий, но при планировании поездки за границу может потребоваться виза, выданная посольством страны, которую они хотят посетить.)

Свяжитесь с нами

Чтобы связаться с представителем службы поддержки клиентов, посетите страницу «Контакты GSS» для получения полной информации или используйте контактную информацию, указанную ниже. Агенты колл-центра службы Visa работают с 8:00 до 20:00 с понедельника по пятницу и могут помочь вам по телефону или в чате.

Электронная почта : [email protected]

Телефон: Звонящие в Россию: +7 (495) 745 3388 или 8 (800) 100-2554 (бесплатно)
Звонящие в США: +1 (703) 745 5474

Чат: Чтобы поговорить с представителем службы поддержки клиентов, нажмите здесь. Программное обеспечение для чата работает с Internet Explorer 8.0, Internet Explorer 7.0, Internet Explorer 6 с пакетом обновления 2 (SP2) и Firefox 3.6.

По вопросам, связанным с конкретным случаем, на которые нет ответа на нашем веб-сайте для подачи заявления на визу или в колл-центре, вы можете связаться с группой общественных запросов соответствующего консульского отдела по телефону:

Заявление об обслуживании клиентов

Государственный департамент управляет процессом получения визы строго, но справедливо, чтобы наилучшим образом защитить Соединенные Штаты.Мы привержены принципиальной открытости, которой всегда славились Соединенные Штаты. Путешествие в Соединенные Штаты приветствуется и поощряется.

Обещаем вам, заявителю на визу, что:

  • Мы будем относиться к вам достойно и уважительно, даже если мы не сможем предоставить вам визу.
  • Мы будем относиться к вам как к личности и вашему случаю как к уникальному.
  • Мы будем помнить, что для вас собеседование на получение визы может быть новым или пугающим опытом и что вы можете нервничать.
  • Мы будем использовать ограниченное время, отведенное для собеседования, чтобы получить как можно более полную картину ваших планов и намерений в отношении поездки.
  • Мы будем использовать наши доступные ресурсы, чтобы справедливо помочь всем соискателям записаться на прием, чтобы успеть вовремя поехать по делам, учебе и другим важным обязанностям.
  • Мы разместим подробную и точную информацию о визовых требованиях и процедурах подачи заявления на каждом веб-сайте посольства и консульства.
  • Мы предоставим информацию о времени ожидания встречи для неиммигрантов в каждом посольстве и консульстве, указанном на сайте http: // travel. state.gov.
  • Мы объясним вам причину отказа в выдаче визы.

Кроме того, если вы:

  • Студент, мы сделаем все возможное, чтобы вы записались на прием и, если вы соответствуете требованиям, получили визу вовремя, чтобы начать занятия.
  • Медицинский и гуманитарный путешественник, мы ускорим обработку для тех, кто имеет дело с опасными для жизни ситуациями.
  • Деловой путешественник, мы создадим соответствующие механизмы для облегчения деловых поездок и ускорения дел, представляющих особый интерес для американского бизнеса.

В то же время мы ожидаем вас, заявителя на визу, по номеру:

  • Спланируйте поездку и подачу заявления на визу как можно раньше.
  • Заполните заявку полностью и точно.
  • Расскажите о своих целях и планах.
  • Подготовьтесь к собеседованию, имея возможность четко и кратко описать свои намерения.

Duferco — Viz Stahl

Описание проекта

Вложение ЕБРР в акционерный капитал VIZ Stahl, специализированного российского металлургического завода, расположенного в Екатеринбурге, для поддержки модернизации существующих производственных мощностей, восстановления части их первоначальных мощностей и повышения качества продукции и повышения энергоэффективности.

Помимо собственного финансирования деятельности VIZ Stahl, Duferco попросила Банк принять участие в модернизации производственных мощностей, что позволит компании восстановить производственные мощности и улучшить качество продукции и энергоэффективность.

Переходное воздействие

Влияние на переходный процесс будет достигнуто путем оказания Duferco помощи в постприватизационной реструктуризации на основе прочной долгосрочной бизнес-стратегии. Этот процесс уже привел к повышению прозрачности компании и улучшению практики управления.Участие ЕБРР в компании будет способствовать дальнейшему укреплению ее организационной и финансовой прозрачности и стандартов корпоративного управления. Новые инвестиции помогут российской компании укрепить свою репутацию среди основных международных заказчиков и улучшить ее конкурентные позиции по сравнению с другими поставщиками.

Клиент

Инвестируемая компания является одним из 15 мировых производителей стали с ориентированной зеренной структурой, используемой для трансформаторов при производстве и распределении электроэнергии. Компания контролируется и управляется Duferco, крупным трейдером стали и важным европейским производителем с четким стратегическим взглядом на сталелитейный сектор и доказанной способностью приобретать и преобразовывать сталелитейные заводы.

ЕБРР Финанс

Инвестиции в акционерный капитал в размере 5 млн долларов США (5,75 млн евро).

Стоимость проекта

5 миллионов долларов США (5,75 миллиона евро).

Воздействие на окружающую среду

Эта операция прошла проверку B / 1, требуя экологического аудита существующих объектов и экологического анализа воздействия на окружающую среду, связанного с предлагаемой разработкой, и адекватности мер по снижению воздействия.Экологический аудит существующих объектов проводился независимыми консультантами в соответствии с техническим заданием, подготовленным ЕБРР. Он показал, что разделение Верх-Изетского металлургического завода на несколько независимых компаний и последующая приватизация были тщательно подготовлены, и что ответственность четко определена в отношении использования общей канализационной системы и ответственности за мониторинг сточных вод и выбросов в атмосферу. Источники выбросов в атмосферу компании эксплуатируются в соответствии с местными установленными лимитами.Благодаря работе замкнутого цикла технологической воды, на объекте нет проблем со сбросом сточных вод, за исключением сброса ливневой воды и избыточной воды из цикла охлаждения. Дополнительные очистные сооружения будут построены к концу 2003 года в соответствии с соглашением между VIZ Stahl и Государственным комитетом по охране окружающей среды Свердловской области.

В настоящее время большинство хранилищ опасных материалов эксплуатируются в соответствии со стандартами России и Европейского Союза.Утилизация отходов на предприятии хорошо организована, переработке отходов уделяется большое внимание. Управление охраной труда и техникой безопасности в компании находится на очень хорошем уровне. Система наблюдения и расписания для регулярного контроля условий труда внедрена и полностью работоспособна. Компания поддерживает открытые рабочие отношения с контролирующими органами по охране окружающей среды, охране здоровья и безопасности. Связь с сотрудниками компании и широкой общественностью налажена через газеты компании.На основе результатов комплексной экологической экспертизы был разработан План действий по охране окружающей среды (ПДООС) для решения выявленных проблем, который приведет компанию в соответствие со стандартами России и ЕС / Всемирного банка.

Техническое сотрудничество

Никто.

По вопросам деловых возможностей или закупок обращайтесь в компанию-клиент.

Запросы ЕБРР по проектам, не связанным с закупками:
Тел .: +44 20 7338 7168
Электронная почта: projectenquiries @ ebrd.com

ПГИ определяет, как ЕБРР раскрывает информацию и консультируется со своими заинтересованными сторонами, чтобы способствовать лучшему пониманию и пониманию его стратегий, политики и операций. Посетите страницу Политики общественной информации ниже, чтобы узнать, как запросить отчет Совета государственного сектора.
Текст PIP

Наночастицы CeO 2, украшенные серебром, для быстрой фотокаталитической деградации текстильного красителя бенгальской розы

  • org/ScholarlyArticle»> 1.

    Йошимура, Дж., Эбина, Ю., Кондо, Дж., Домен, К. и Танака, А. Фотокаталитическое поведение под действием видимого света слоистого ниобата рубидия свинца перовскитного типа, RbPb 2 Nb 3 O 10 . J. Phys. Chem. 97 , 1970 (1993).

    CAS Статья Google ученый

  • 2.

    Бамвенда Г.Р., Саяма К. и Аракава Х. Влияние выбранных параметров реакции на фоторождение кислорода и водорода из WO 3 –Fe 2+ –Fe 3+ водная суспензия. J. Photochem. Photobiol. А 122 , 175 (1999).

    CAS Статья Google ученый

  • 3.

    Rajeshwar, K. et al. Гетерогенная фотокаталитическая обработка органических красителей на воздухе и в водных средах. J. Photochem. Photobiol. С 9 , 171 (2008).

    CAS Статья Google ученый

  • 4.

    Икрам, М. et al. Анализ характеристик разложения красителя, бактерицидного поведения и молекулярного докинга наночастиц TiO, легированного медью. 2 . RSC Adv. 10 , 24215–24233 (2020).

    CAS Статья Google ученый

  • 5.

    Су, Дж., Го, Л., Бао, Н. и Граймс, К. А. Наноструктурированные пленки WO 3 / BiVO 4 с гетеропереходом для эффективного фотоэлектрохимического расщепления воды. Nano Lett. 11 , 1928–1933 (2011).

    ADS CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 6.

    Sabzehmeidani, MM, Karimi, H. & Ghaedi, M. Активный в видимом свете CeO 2 / CuO / Ag 2 CrO 4 тройные гетероструктуры на основе нановолокна CeO 2 / CuO гетеропереходы для одновременной деградации бинарной смеси красителей. New J. Chem. 44 , 5033–5048 (2020).

    CAS Статья Google ученый

  • 7.

    Chen, H. M. et al. Однослойные сенсибилизированные квантовыми точками фотоэлектроды из нанопроволок ZnO: истинная эффективность разделения воды. Angew. Chem. Int. Эд. 122 , 6102–6105 (2010).

    Артикул Google ученый

  • 8.

    Manibalan, G. et al. Высокие электрохимические характеристики и повышенное электрокаталитическое поведение гидротермально синтезированной высококристаллической гетероструктуры CeO 2 @NiO нанокомпозита. Неорг. Chem. 58 , 13843–13861 (2019).

    CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • 9.

    Манибалан, Г., Муругадосс, Г., Тангамуту, Р., Кумар, М. Р. и Кумар, Р. М. Простой синтез нанокомпозита CeO 2 -SnO 2 для электрохимического определения L-цистеина. J. Сплавы Comp. 792 , 1150–1161 (2019).

    CAS Статья Google ученый

  • 10.

    Огунниран, К. О., Муругадосс, Г., Тангамуту, Р. и Нишанти, С. Т. Наноструктурированный композит CeO 2 / FeO 3 / Mn-rGO композит в качестве анодного материала в литий-ионной батарее. J. Сплавы Comp. 786 , 873–883 (2019).

    CAS Статья Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 11.

    Kempaiah, D. M., Yin, S. & Sato, T. Простой и быстрый сольвотермический синтез трехмерного микропотока CeO 2 и Gd: CeO 2 в докритических и сверхкритических условиях для каталитических применений. CrystEngCommun 13 , 741–746 (2011).

    CAS Статья Google ученый

  • 12.

    Шаджахан, С., Арумугам, П., Раджендран, Р., Мунусами, А. П. Оптимизация и детальное исследование стабильности нанокубов из церия, легированного свинцом, для усиленного фотодеградации некоторых анионных и катионных органических загрязнителей. Араб. J. Chem. 13 , 1309–1322 (2020).

    CAS Статья Google ученый

  • 13.

    Ван Ю., Лю Т. и Лю Дж. Синергетическое усиление разложения органических красителей наночастицами CeO 2 с фторидом при низком pH. ACS Appl. Nano Mater. 3 , 842–849 (2019).

    Артикул CAS Google ученый

  • 14.

    Джи, П., Чжан, Дж., Чен, Ф. и Анпо, М. Изучение адсорбции и разложения кислого оранжевого 7 на поверхности CeO 2 при облучении видимым светом. заявл. Катал. В 85 , 148 (2009).

    CAS Статья Google ученый

  • 15.

    Коминами Х., Танака А. и Хашимото К. Минерализация органических кислот в водных суспензиях наночастиц золота, нанесенных на порошок оксида церия (IV), при облучении видимым светом. Chem. Commun. 46 , 1287 (2010).

    CAS Статья Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 16.

    Manibalan, G., Murugadoss, G., Thangamuthu, R., Kumar, RM & Jayavel, R. Легкий синтез гетероструктуры CeO 2 -TiO 2 нанокомпозитов для усовершенствованного электрохимического сенсора и солнечного элемента Приложения. J. Сплавы Comp. 773 , 449–461 (2019).

    CAS Статья Google ученый

  • 17.

    Муругадосс, Г., Ма, Дж., Нинг, X. и Кумар, М. Р. Селективные ионы металла, легированные наночастицами CeO 2 , для превосходной фотокаталитической активности под солнечным светом и применения суперконденсаторов. Неорг. Chem. Commun. 109 , 107577 (2019).

    CAS Статья Google ученый

  • 18.

    Chouhan, N. et al. Фотокаталитические нанотрубки ZnO, украшенные КТ CdSe: эффективный фотоэлектрод для расщепления воды. Chem. Commun. 47 , 3493–3495 (2011).

    CAS Статья Google ученый

  • 19.

    Primo, A., Marino, T., Corma, A., Molinari, R. & García, H. Эффективное фотокаталитическое расщепление воды в видимом свете мельчайшими количествами золота, нанесенного на наночастицы CeO 2 получено методом биополимерного шаблона. J. Am. Chem. Soc. 133 , 6930–6933 (2011).

    CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • 20.

    Лю, X.-H. et al. Монодисперсный CeO 2 / CdS гетероструктурированные сферы: синтез в одном резервуаре и повышенная фотокаталитическая активность водорода. RSC Adv. 1 , 1207–1210 (2011).

    CAS Статья Google ученый

  • 21.

    Lops, C. et al. Сонофотокаталитические механизмы разложения красителя родамин B за счет образования радикалов микро- и наночастицами ZnO. заявл.Катал. В 243 , 629–640 (2019).

    CAS PubMed PubMed Central Статья Google ученый

  • 22.

    Аарти Т. и Мадрас Г. Фотокаталитическое разложение родаминовых красителей с помощью нано-TiO 2 . Ind. Eng. Chem. Res. 46 , 7–14 (2007).

    CAS Статья Google ученый

  • 23.

    Seal, S. et al. Инженерные дефекты оксидов церия: настройка химической реактивности для биомедицинских, экологических и энергетических приложений. Наноразмер 12 , 6879–6899 (2020).

    CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • 24.

    Dawoud, TMS, Pavitra, V., Ahmed, P., Syed, A. & Nagaraju, G. Фотокаталитическое разложение органического красителя с использованием наночастиц ZrO, легированного серебром. 2 : Сухое молоко способствует экологичности синтез. J. King Saud Univ. Sci. 32 , 1872–1878 (2020).

    Артикул Google ученый

  • 25.

    Ziashahabi, A., Prato, M., Dang, Z., Poursalehi, R. & Naseri, N. Влияние окисления серебра на фотокаталитическую активность Ag / ZnO гибридных плазмонных / металлооксидных наноструктур в видимом свете и в темноте. Sci. Отчетность 9 , 11839 (2019).

    ADS PubMed PubMed Central Статья CAS Google ученый

  • 26.

    Tang, T. et al. Фотокаталитическое удаление органических фосфатных эфиров с помощью TiO 2 : Влияние неорганических ионов и гуминовой кислоты. Chemosphere 206 , 26–32 (2018).

    ADS CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • 27.

    Гарнер У. Э. и Ривз Л. В. Термическое разложение оксида серебра. Пер. Faraday Soc. 50 , 254–260 (1954).

    CAS Статья Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 28.

    Beche, E., Charvin, P., Perarnau, D., Abanades, S. & Flamant, G. Исследование Ce 3D XPS оксидов церия и смешанного оксида церия (Ce x Ti y O z ). Прибой. Интерфейс Анал. 40 , 264–267 (2008).

    CAS Статья Google ученый

  • 29.

    Чахал, С., Рани, Н., Кумар, А. и Кумар, П. Электронная структура и фотокаталитическая активность наночастиц оксида церия, легированного самарием, для опасной деградации красителя бенгальской розы. Вакуум 172 , 109075 (2020).

    ADS CAS Статья Google ученый

  • 30.

    Wu, K., Zhou, L., Jia, C.-J., Sun, L.-D. И Ян, С.-Х. Pt-embedded-CeO 2 полых сфер для повышения эффективности окисления CO. Mater. Chem. Передний. 1 , 1754–1763 (2017).

    CAS Статья Google ученый

  • 31.

    Wang, G., Mu, Q., Chen, T. и Wang, Y. Синтез, характеристика и фотолюминесценция наночастиц CeO 2 простым методом при комнатной температуре. J. Сплавы Compd. 493 , 202–207 (2010).

    CAS Статья Google ученый

  • 32.

    Марта С., Редди К. Х., Бисвал Н. и Парида К. М. Простой синтез наностержней из смешанного оксида InGaZn для увеличения производства водорода в видимом свете. Dalton Trans. 41 , 14107–14116 (2012).

    CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 33.

    Kavinkumar, V. et al. Исследование структурных, оптических и кристаллографических свойств Bi 2 WO 6 / Ag плазмонных гибридов и их фотокаталитических характеристик и характеристик электронного переноса. Dalton Trans. 48 , 10235–10250 (2019).

    CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • 34.

    Кавинкумар, В., Джайхиндх, Д. П., Атул, В., Фу, Ю.-П. И Йотивенкатачалам, К. Влияние замещения кобальта на кристаллическую структуру, края зон и фотокаталитические свойства иерархических микросфер Bi 2 WO 6 . New J. Chem. 43 , 9170–9182 (2019).

    CAS Статья Google ученый

  • 35.

    Сингх, Дж., Рати, А., Рават, М., Кумар, В. и Ким, К. Х. Влияние легирования марганцем на структурную, оптическую и фотокаталитическую активность наночастиц оксида цинка. Compos. B Eng. 166 , 361–370 (2019).

    CAS Статья Google ученый

  • 36.

    Видья, Ч., Прабха, М. Н. Ч.И Радж, М.А.Л.А. Грин-опосредованный синтез наночастиц оксида цинка для фотокаталитического разложения красителя Бенгальской розы. Environ. Nanotechnol. Монит. Управлять. 6 , 134–138 (2016).

    Google ученый

  • 37.

    Malini, B. & Raj, G. A. G. Определение характеристик и фотокаталитических характеристик TiO2, легированного C, N и S, и фотокаталитические характеристики разложения красителя бенгальской розы при дневном свете. J. Environ. Chem. Англ. 6 , 5763–5770 (2018).

    CAS Статья Google ученый

  • 38.

    Ленг, Кв. et al. Создание новой гетероструктуры Ag / CeO 2 для усиления фотокаталитической активности. Mater. Res. Бык. 65 , 266–272 (2015).

    CAS Статья Google ученый

  • 39.

    Wu, L. et al. Простой синтез Ag @ CeO 2 плазмонных фотокатализаторов ядро ​​– оболочка с улучшенными фотокаталитическими характеристиками в видимом свете. J. Hazard. Mater. 300 , 93–103 (2015).

    CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 40.

    Сараванакумар К., Рамджан М. М., Суреш П. и Мутурадж В. Изготовление высокоэффективного фотокатализатора Ag / CeO 2 , управляемого видимым светом, для разложения органических загрязнителей. J. Сплавы Compd. 664 , 149–160 (2016).

    CAS Статья Google ученый

  • 41.

    Зелек, М. А. и Куо, Д. Х. Синтез и применение нанокомпозитного катализатора V 2 O 5 -CeO 2 для усиленного разложения метиленового синего при освещении видимым светом. Chemosphere 235 , 935–944 (2019).

    ADS CAS PubMed Статья PubMed Central Google ученый

  • 42.

    Qi, E., Niu, B., Zhang, S. & Wang, J. Получение наноструктурированного Ag / CeO 2 с помощью микроволнового синтеза и его фотокаталитическая активность. Adv. Mater. Res. 624 , 88–93 (2013).

    Артикул CAS Google ученый

  • 43.

    Zhang, L. et al. Синтез нового CeO 2 –BiVO 4 / FAC композиты с улучшенными фотокаталитическими свойствами в видимом свете. J. Environ. Sci. 26 , 1936–1942 (2014).

    Артикул Google ученый

  • 44.

    Хан, М. Х. et al. Биогенное изготовление нанокомпозита Au @ CeO 2 с повышенной активностью в видимом свете. J. Phys. Chem. 118 , 9477–9484 (2014).

    CAS Google ученый

  • org/ScholarlyArticle»> 45.

    Wang, Q. et al. Синтез монодисперсного Bi 2 O 3 -модифицированных CeO 2 наносфер с превосходной фотокаталитической активностью в видимом свете. CrystEngComm 17 , 671–677 (2015).

    CAS Статья Google ученый

  • 46.

    Сабари Арул, Н., Мангаларадж, Д. и Ин Хан, Дж. Улучшенные фотокаталитические свойства самоорганизующихся иерархических наноструктур CeO, легированного железом. 2 . Mater. Lett. 145 , 189–192 (2015).

    CAS Статья Google ученый

  • 47.

    Deng, W., Chen, D., Hu, J. & Chen, L.A.Общий и зеленый подход к синтезу монодисперсных полых сфер из церия с повышенной фотокаталитической активностью. RSC Adv. 5 , 80158–80169 (2015).

    CAS Статья Google ученый

  • Полимеры | Бесплатный полнотекстовый | Оценка облучения пленки ПЭТФ с быстрыми тяжелыми ионами с использованием спектра пропускания без помех в УФ-видимой области

    1. Введение

    Экспериментальные исследования свойств полимерных пленок, облученных быстрыми тяжелыми ионами, представляют интерес для большого числа исследователей. исследовательские группы: обзоры см., например, [1,2].В последнее время большое внимание уделяется свойствам полимерных пленок, облученных быстрыми тяжелыми ионами без какого-либо последующего травления. Потенциал их промышленного применения был продемонстрирован в ряде работ [3,4,5,6,7], например, сверхбыстрое ионное просеивание и уменьшение загрязняющих веществ в промышленных сточных водах. Растущий интерес к практическому использованию эффектов, возникающих в пленках полиэтилентерефталата (ПЭТ), облученных высокими флюенсами быстрых тяжелых ионов с энергией более 1 МэВ / а. е. без последующего травления, как в [4], вызывает растущий интерес в методах надежного определения и контроля облучения.Анализ ряда экспериментальных работ за последние 20 лет позволяет предположить, что существует два основных методологических подхода, хотя некоторые авторы (включая нас в более ранних статьях) указывают значения флюенса, не комментируя, как они были определены [3,5,6,7 , 8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,18]). Первый подход связан с определением интенсивности ионного потока, а второй — с определением реакции полимерной пленки к облучению. Калибровка ионного тока с точностью ~ 20% с использованием цилиндра Фарадея и управления пучком путем отслеживания сигнала от детектора из алюминиевой фольги, излучающего вторичные электроны, размещенного перед образцами, была отмечена в [19,20,21].В работе [22] ионный ток при облучении полимерных пленок контролировался по характерному вторичному рентгеновскому излучению от металлической пленки, расположенной перед облучаемым образцом. Оценка флюенса на основе измерений тока существенно ненадежна из-за нестабильности самого ионного пучка, и точность 20%, вероятно, будет на пределе или близком к пределу, возможному с помощью таких методов. Хотя этого достаточно для исследовательских экспериментов [8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,18], промышленные приложения обычно требуют более высокого уровня точности с не более чем 10% статистическим отклонением от среднее значение.Это может быть достигнуто прямым подсчетом вытравленных следов скрытых треков на поверхности облученных пленок с помощью сканирующей электронной микроскопии (SEM) [4,23,24,25,26,27]. Согласно [27], определение облучения путем подсчета протравленных следов также имеет свои ограничения, поскольку даже при использовании СЭМ высокого разрешения прямой подсчет возможен только до доз (2–3) × 10 10 см −2 . Однако существует значительный интерес к более высоким флюенсам облучения: в [4], где была обнаружена линейная зависимость скорости ионного переноса от облучения, наибольшее значение скорости переноса было достигнуто при флюенсе 5 · 10 10 см −2 .Это и более высокие уровни облучения либо очень трудно, либо недоступны для определения с помощью СЭМ. Ряд авторов [4,19,27,28,29] показали, что край поглощения спектров пропускания в УФ-видимой области в ряде полимеры, включая ПЭТ, имеют ярко выраженный красный сдвиг при увеличении плотности энергии облучения, которая зависит от типа и плотности энергии облучающих ионов. В работе [19] образцы промышленных пленок полиимида (ПИ) толщиной 12, 25 и 50 мкм облучались ионами Ti, Mo и Au с энергией до 11.4 МэВ / а.е. Было обнаружено, что край поглощения, расположенный в диапазоне длин волн 420–550 нм для первичной пленки PI, распространяется в ближнюю инфракрасную область спектра при высоких плотностях плотности энергии. Снятие спектров пропускания в УФ-видимой области пленки PI толщиной 12 мкм, облученной ионами Au с энергией 5,2 МэВ / а.е. при флюенсах от 1 × 10 10 до 4 × 10 11 см −2 дюймов В диапазоне длин волн 400–900 нм авторы показали, что флюенс можно охарактеризовать производной dT / dλ пропускания T (λ) и длины волны λ.Путем сравнения поведения этой производной для различных плотностей энергии и для ионов Au, Mo и Ti было обнаружено, что при превышении определенного значения облучения (порядка 1 МГр) максимальное значение dT / dλ смещается в сторону более длинных волн. с линейной зависимостью от флюенса. В работе [4] УФ-видимые спектры пленок ПЭТФ Hostaphan ® и Lumirror ® измерены в диапазоне 200–800 нм после облучения ионами Bi с энергией 1,4 ГэВ при флюенсах от 5 × 10 9 до 5 × 10 10 см −2 , и было обнаружено красное смещение края поглощения.Кроме того, на длине волны 365 нм наблюдалась линейная зависимость коэффициента поглощения от облучения. Край поглощения в исходных пленках ПЭТФ лежит в диапазоне λ = 310 — 330 нм и намного острее, чем в пленках ПИ. Край поглощения ПЭТ испытывает более сильный красный сдвиг относительно своего начального значения, чем у PI, до длин волн в области 700 нм при облучении быстрыми тяжелыми ионами [4,20,27]. В [29] было показано, что разница в оптической плотности облученных и исходных пленок PI на определенных длинах волн линейно зависит от плотности энергии при постоянной потере энергии dE / dx.В работе [30] было исследовано облучение стопок пленок полистирола (ПС) ионами Ar с энергией 1,37 ГэВ и плотностью энергии в диапазоне от 1,1 × 10 10 до 5,5 × 10 12 см –2 . Было обнаружено, что разница между поглощением до и после облучения примерно линейна в зависимости от плотности энергии. В работе [31] было исследовано облучение стопок поликарбонатных пленок ионами Ar с энергией 1,37 ГэВ и плотностью энергии в диапазоне от 1,1 · 10 · 10 до 5,5 · 10 12 см −2 .Как и в [30], радиационно-индуцированные изменения оптической плотности на данной длине волны следовали примерно линейной зависимости от плотности энергии. В [19] линейная зависимость между плотностью облучения и производной dT / dλ была получена непосредственно из измеренного пропускания T ( λ) без каких-либо предположений о значении коэффициента отражения. В [4,21,29,30,31] была показана линейная зависимость между плотностью энергии излучения и коэффициентом поглощения на определенных длинах волн, рассчитанным по закону Бугера-Бера-Ламберта [32].В [4] авторы рассчитали коэффициент поглощения с учетом потерь света из-за отражения, а в [29,30,31] нет упоминания о том, были ли учтены эти потери и каким образом. Это говорит о том, что результаты, приведенные в этих статьях, обеспечивают широкую оценку взаимосвязи, а не точное количественное определение. Для целей определения плотности энергии излучения путем измерения оптического отклика полимерной пленки мы ищем способ измерения плотности энергии излучения. общий ответ на облучение (т.е.е., по всем длинам волн, где наблюдается изменение кривой пропускания в УФ-видимой области после облучения) наиболее прямым образом, без необходимости делать дополнительные предположения о достоверности расчетных параметров, таких как отражательная способность. Таким образом, прямой подход, использованный в [19], более надежен, чем попытка сначала вычислить оптическую плотность для каждой длины волны с помощью закона Бугера-Бера-Ламберта, а затем интегрировать по λ, но нам не удалось найти в литературе какую-либо информацию, касающуюся измерения изменения общего поглощения в УФ-видимом диапазоне длин волн после облучения полимерных пленок быстрыми тяжелыми ионами. Особая проблема заключается в наличии интерференционных полос в наблюдаемых спектрах оптического пропускания PI и PET. Они содержат четко определенные интерференционные полосы в более длинноволновой части спектра, начиная примерно с длины волны 500 нм для PI [19,29] и 370–380 нм для PET [27]. Поэтому эти спектры пропускания правильнее было бы назвать спектроинтерферограммами. Интерференционные полосы означают, что даже небольшие изменения амплитуды пропускания приведут к тому, что dT / dλ будет содержать заметную волновую составляющую, что затруднит определение того, какой из локальных максимумов является фактическим максимумом dT / dλ при его смещении в сторону более длинных волн. в пределах интерференционной области.Тем не менее интерференционные полосы дают информацию о состоянии исследуемых полимерных пленок как до, так и после облучения. Например, в [4] интерференционные полосы на УФ-видимых спектрах использовались для определения показателя преломления как исходных, так и облученных пленок ПЭТФ. Авторы сообщают, что значение показателя преломления находится в диапазоне 1,54–1,65 и не зависит от флюенса облучения, что указывает на то, что поглощение, а не отражение отвечает за уменьшение интенсивности света, проходящего через облученные пленки.Задача выделения гладкой кривой пропускания T α (λ) из экспериментальной кривой пропускания T (λ) при наличии интерференционных полос была решена в [33] применительно к тонким пленкам кремния на прозрачной подложке. Единственное предположение, сделанное автором при выводе формул для определения оптических параметров из кривых пропускания, состоит в том, что функции T M (λ) и T m (λ), описывающие положения наблюдаемых интерференционных максимумов T M и минимумов T m на спектральной кривой пропускания T (λ) должны быть непрерывными функциями λ.Исходя из предположения о непрерывности этих функций, можно построить T M (λ) и T m (λ) из экспериментально определенных максимумов и минимумов интерференционных полос путем последовательной параболической интерполяции между, соответственно, тремя последовательными максимумами. или минимумы, чтобы создать непрерывную функцию, связывающую все наблюдаемые максимумы / минимумы. В [33] автор разделил полную кривую на четыре области поглощения: (1) прозрачные, где прозрачность не зависит от длины волны; (2) слабая, где прозрачность падает примерно на 10%, когда коэффициент поглощения α начинает влиять на пропускание; (3) средний, где α оказывает заметное влияние, а пропускание снижается до 25%; и (4) сильная, где пропускание радикально уменьшается под действием α и интерференционные полосы исчезают.Для областей слабого и среднего поглощения автор обнаружил, что значение T α (λ) может быть получено из уравнения (1):

    T α (λ) = [T M (λ) T м (λ)] 1/2

    (1)

    т.е. значение T α (λ) определяется как среднее геометрическое для T M (λ) и T m (λ). В [27] было показано, что в исходных и облученных пленках ПЭТ интерференционные полосы возникают на экспериментальной кривой пропускания T (λ) в аналогичной области слабой / средней прозрачности (снижение примерно до 15% от максимального пропускания). Это предполагает, что метод [33] также может быть использован для анализа интерференционных полос в спектрах пропускания таких полимерных пленок для извлечения плавной кривой пропускания T α (λ) из экспериментальной спектроинтерферограммы пропускания в УФ-видимом диапазоне полимерные пленки, облученные быстрыми тяжелыми ионами. Хорошо известно, что для быстрых тяжелых ионов с диапазоном энергий 1–10 МэВ / а.е. потери энергии ионами при их прохождении через полимерную пленку происходят в результате взаимодействия с ионами. электронная подсистема облучаемого материала [34].Также хорошо известно, что физической причиной края поглощения в полимерных пленках, включая ПЭТФ, является внутренний фотоэлектрический эффект, при котором поглощение фотонов объясняется перераспределением электронов по энергетическим состояниям в облученной пленке [35,36]. Таким образом, наблюдаемое красное смещение отражает изменения в состоянии электронов в пленке после облучения, и сравнение плавных кривых пропускания T α (λ) для исходных и облученных пленок во всем диапазоне длин волн должно дать количественную информацию об общем флюенс излучения, которому подвергалась полимерная пленка. В описываемых здесь экспериментах мы использовали метод, описанный в [33], чтобы показать, что плавная кривая пропускания позволяет количественно оценить общее облучение пленок ПЭТФ. При соответствующей начальной калибровке это дает возможность определять флюенс излучения, используя только данные оптической спектрометрии, которые также можно использовать для создания обратной связи с источником ионов для управления процессом облучения. Затем мы рассмотрим физическую интерпретацию этих экспериментальных результатов.

    2.Методики экспериментов

    Рулонная ПЭТ-пленка торговой марки Hostaphan ® RNK-12 производства Mitsubishi (Hood Rd, Greer, SC, USA) с номинальной толщиной 12 мкм и шириной 320 мм была облучена на DC-60. ускоритель тяжелых ионов в г. Нур-Султан, Республика Казахстан. Схема облучения показана на рисунке 1а. Участки пленки размером 300 × 200 мм, расположенные между двумя опорными валками, облучались при нормальной ориентации (т. Е. Пленка вертикальна, а ионный пучок горизонтально в нашей установке), и эксперименты повторяли с пленкой, наклоненной так, чтобы ионный пучок падал на пленка под углом 40 ° к нормали, что дает длину пути иона (12 / cos40) ~ 16 мкм. Угол облучения изменяли путем смещения верхнего валка относительно нижнего в направлении падения ионного пучка, как показано стрелкой на рис. 1а. Отклонение угла луча не превышало 1 ° на краях зоны облучения. При нормальном облучении потоки ионов Ar 8+ и Kr 15+ с энергией 1,75 МэВ / а.е. и потоком до 2 × 10 8 см −2 с −1 , как в [19,21,29]. Для ионов Ar 8+ использовали четыре флюенса облучения: 2.25 × 10 10 см −2 ; 4,5 × 10 10 см −2 ; 6 × 10 11 см −2 ; и 5 × 10 12 см −2 . Для ионов Kr 15+ использовались три флюенса: 1,6 × 10 10 см –2 , 3,2 × 10 10 см –2 и 6,5 × 10 10 см –2 . облучение под углом 40 °, 84 ионов Kr с зарядами 13 + , 14 + и 15 + и энергией 100 МэВ (1.2 МэВ / а.е.). Для каждого значения заряда иона Kr использовались три значения плотности энергии: 5 × 10 10 см −2 ; 1 × 10 11 см −2 и 2,5 × 10 11 см −2 . В таблице 1 приведены значения индукции магнитного поля T и частоты высокочастотного генератора HF, на которых были получены пучки ионов Kr , 84, для экспериментального использования. С этими параметрами для ускорения пучки ионов Kr с тремя значениями заряда (13 + , 14 + и 15 + ) при постоянной энергии были получены на ускорителе DC-60.Используя программное обеспечение SRIM Pro 2013 [34], расчетное расстояние пробега ионов Ar, используемых для облучения, составляет около 22 мкм, а для ионов Kr с энергиями 1,75 МэВ / а.е. и 1,2 МэВ / а.е. — около 27 мкм и 20 мкм. мкм, соответственно, обеспечивая сквозной проход бомбардирующих ионов в наших экспериментах для обеих геометрий облучения. На рисунке 1b показаны скриншоты траекторий снаряда SRIM в пленке ПЭТ при нормальной экспозиции с ионами Ar 8+ и Kr 15+ и под углом с ионами Kr 15 + 14 + 13 + , рассчитанными с помощью программы SRIM. где синей линией отмечена толщина пленки, использованной в нашем эксперименте. Широкое использование программного кода TRIM / SRIM на протяжении более двух десятилетий показало, что он предсказывает длину пути иона с точностью до нескольких процентов для большинства ионов, за исключением самых тяжелых ионов (таких как Bi, Xe, Au , U) с высокими энергиями при прохождении через мишени, состоящие из легких элементов [24]. В недавнем исследовании [27] было определено, что переоценка TRIM / SRIM длины пути для очень тяжелых ионов в легких матрицах составляет 10%. Это открытие неприменимо к нашей ситуации, но даже если результаты TRIM / SRIM на рис. 1b завышают длину пути на 10%, ионы, которые мы использовали, совершенно очевидно, обладают достаточной энергией для прохождения через пленки ПЭТ в обеих геометриях облучения.Калибровочное определение облучения проводилось прямым подсчетом протравленных следов скрытых треков на поверхности образцов пленки, облученных до дозы 1,1 × 10 9 см −2 с Ar 8+ и Kr 15+ с использованием SEM JEOL 7500F (Akishima, Tokyo, Japan). Пленка протравливалась в 2.2 М растворе NaOH в течение 3 мин при 80 ° C с последующей промывкой и сушкой. На рис. 1с показано СЭМ-изображение пленки ПЭТ, использованной для калибровки плотности энергии излучения.Прямой подсчет пор, полученных после химического травления с помощью программы MARKER-12, показал, что плотность пор составила 1,1 × 10 9 см –2 . Средний диаметр протравленных пор составлял около 100 нм со средним расстоянием между дорожками около 300 нм, что позволяло с уверенностью различать отдельные протравленные поры. Увеличение плотности энергии достигалось за счет увеличения времени облучения образцов пленки ПЭТФ при постоянном значении ионного тока, который периодически контролировали с помощью цилиндра Фарадея.Точность определения значений флюенса составляла 10%. УФ-видимые оптические свойства облученных пленок (в том числе использованных для калибровки, перед травлением) изучали на аналитическом спектрофотометре Jena Specord-250 BU (Analytik Jena, Йена, Германия). . Спектроинтерферограммы пропускания регистрировались сразу после облучения в спектральном диапазоне 280–750 нм с шагом 1 нм для пленок, облученных при нормальной экспозиции, и с шагом 0,1 нм для пленок, облученных под углом 40 °.Для спектральных измерений из центральной части облученных пленок вырезали образцы размером 25 × 25 мм, отмечая положение относительно рулона, чтобы гарантировать сохранение направления текстуры исходной пленки [16,37]. Точность, с которой можно определить T α (λ), связана с точностью определения положений максимумов и минимумов интерференции T M и T m , что, в свою очередь, определяется степенью детализации измерения. Интервал, используемый для измерения спектра пропускания и для шага 1 нм, составляет около 0.1% [33].

    Термостабильность радиационных эффектов исследовалась путем отжига образца пленки ПЭТФ после облучения под углом 40 ° ионами Kr 13+ с энергией 1,2 МэВ / а.е. и флюенсом 5 × 10 10 см −2 . Образец помещался в герметичный герметичный корпус из необлученной ПЭТ-пленки для предотвращения доступа кислорода. Подготовленный таким образом образец отжигали в сушильном шкафу СНОЛ (Снол-терм, Тверь, Россия) при температуре 75 ± 2 ° C без доступа света в течение 160 часов.

    Исследования структурных изменений в облученных пленках ПЭТФ проводили методом рентгеновской дифракции в геометрии Брэгга-Брентано в диапазоне углов 2θ = 5 — 30 ° и азимутальной развертке φ = 0 — 2 π с шагом 10 ° с использованием рентгеновский дифрактометр D8 Advance Eco Bruker (Bruker, Карлсруэ, Германия).

    3. Экспериментальные результаты

    На рис. 2 показаны УФ-видимые спектро-интерферограммы исследуемых пленок ПЭТ до и после облучения при нормальном падении для различных флюенсов ионов Ar 8+ и Kr 15+ .Интерференционные полосы отчетливо видны во всем диапазоне видимого света, но отсутствуют в УФ-диапазоне.

    Как для ионов Ar 8+ , так и для ионов Kr 15+ с увеличением плотности энергии край поглощения смещается в сторону более длинных волн, а также увеличивается длина волн, на которых исчезают интерференционные полосы.

    Эти интерференционные полосы возникают в результате когерентной комбинации амплитуд отраженных волн (не интенсивностей). Коэффициент амплитудного отражения равен R 1/2 , где R — коэффициент оптического граничного отражения (в нашем случае пленка-воздух), поэтому даже небольшие значения коэффициента отражения в областях с высоким пропусканием приводят к заметным интерференционным эффектам. в спектральной функции пропускания T (λ) [38].При нормальном падении коэффициент отражения R связан с показателем преломления n 1 входящей среды и показателем преломления n 2 среды, в которую проходит волна, по формуле Френеля R = (n 2 -n 1 ) 2 / (n 2 + n 1 ) 2 [4,39]. Для необработанной пленки ПЭТ в [40] указано значение n = 1,57–1,58 (хотя и без указания спектрального диапазона измерений), что близко к значению 1.54–1,65, приведенный в [4], и дает оценку R на границе пленка / воздух около 0,05. Интерференционные картины могут быть численно охарактеризованы параметром видимости полос V, который определяется в уравнении (2) как:

    V = (I макс — I мин ) / (I макс + I мин )

    (2)

    где I max и I min — значения интенсивности света в светлых и темных участках интерференционной картины соответственно [39].При отсутствии поглощения в пленке коэффициент отражения 0,05 должен приводить к образованию интерференционных полос с видимостью до 10%. Экспериментально измеренные картины видимости полос для спектроинтерферограмм на рисунке 2 показаны на рисунке 3. Наблюдаемая видимость составляет 3–5% в красном диапазоне длин волн спектра для всех исследуемых образцов. На длинах волн ниже 600–550 нм видимость всех интерференционных картин быстро уменьшается очень похожим образом, до менее 1% ниже примерно 450 нм.Тот факт, что наблюдаемая видимость полосы ниже расчетной оценки, показывает, что в пленке ПЭТ есть некоторое поглощение, которое является толстым по сравнению с длинами волн мешающего света. Относительно небольшие различия наблюдаемой видимости для всех флюенсов показывают, что коэффициент отражения не имеет существенной зависимости от флюенса, что в целом подтверждает вывод авторов [4] о том, что уменьшение интенсивности света, проходящего через облученные пленки, связано с основной к увеличению абсорбции.Тот факт, что картины видимости полос на рисунке 3 показывают четкую зависимость от длины волны λ, демонстрирует, что коэффициент отражения по амплитуде и, следовательно, коэффициент отражения оптической границы также являются функциями длины волны λ. Эту зависимость необходимо учитывать при проведении количественных расчетов на основе экспериментальных УФ-видимых спектров. С учетом этих наблюдений мы использовали соотношение, предложенное в [33], для определения T α (λ) во всем диапазоне длин волн, где появляются интерференционные полосы. существуют, включая зону слабо выраженных полос, так как, будучи столь малыми, они будут незначительно влиять на окончательную форму T α (λ). Кривые безинтерференционной передачи T α (λ), полученные в результате применения метода [33] к спектроинтерферограммам на рисунке 2, показаны на рисунке 4. Рисунок 4 показывает, что увеличение флюенса излучения приводит к монотонному увеличению красный сдвиг края поглощения ПЭТ до границы видимого света, что хорошо коррелирует с результатами [4,20,27]. Отмечая, что использованные нами флюенсы ионов Ar 8+ на два порядка выше, чем те, которые используются для Kr 15+ , мы видим, что при сопоставимых флюенсах облучение ионами Kr 15+ приводит к более сильный сдвиг края поглощения, чем у ионов Ar 8+ .Для обоих типов ионов и при всех флюенсах F слабо влияет на пропускание на большей длине волны, где T α (λ) также слабо зависит от λ и имеет значение 87,1–88%. Это очень близко к значению 87,3% для нетронутой пленки, а также согласуется с выводом [4] о том, что уменьшение пропускания через облученные пленки связано с повышенным поглощением. Флюенс облучения 1,1 × 10 9 см — 2 , использованный для калибровки, не привел к изменению формы кривой передачи без помех T α (λ) для ионов Ar 8+ (поэтому на рис. 4а не показан график, поскольку он совпадает с таковым для исходного ПЭТ).Для ионов Kr 15+ этот калибровочный флюенс привел к небольшому уменьшению T α (λ) относительно исходной кривой в диапазоне длин волн 310–350 нм, как показано на вставке на рис. 4b. Этот экспериментальный результат предполагает, что может существовать порог плотности энергии, ниже которого облучение быстрыми тяжелыми ионами не приводит к красному смещению края поглощения в пленке ПЭТ. Мы намерены исследовать это более подробно с помощью других экспериментов в будущем.

    Изучая этот набор кривых безинтерференционного пропускания T α (λ) для облученных и исходных пленок ПЭТ в диапазоне λ = 300-750 нм, мы обнаружили, что, S, полное радиационное поглощение света ПЭТ-пленка пропорциональна логарифму плотности энергии F в широком диапазоне значений плотности энергии. Мы получили этот результат в два этапа. Сначала мы вычли исходную кривую пропускания T α P (λ) из каждой из кривых пропускания T α (λ) облученного излучения, чтобы получить (отрицательную) функцию разности пропускания.

    Принцип сохранения энергии требует, чтобы сумма интенсивностей пропускания, отражения и поглощения равнялась интенсивности падающего света. Нормализовавшись по интенсивности падающего излучения, следует, что разница в пропускании между облученной пленкой и исходной пленкой равна по величине и противоположна по знаку сумме разницы в поглощении и отражении.Как показано в [4] и подтверждено нашими результатами выше (рис. 3), облучение тяжелыми ионами оказывает незначительное влияние на отражение от пленок ПЭТ, поэтому вклад отражения в разностную функцию незначителен, а (отрицательные) различия пропускания обусловлены (положительными) различиями в поглощении света исходной и облученной пленкой ПЭТ. Таким образом, разностные кривые на рисунке 5 показывают полное дополнительное поглощение, вызванное флюенсом излучения. Чтобы избежать недоразумений, мы отмечаем, что термин «поглощение» относится к физическим процессам, посредством которых вещество поглощает энергию фотона, обычно через его атомные электроны [ 35,36,41].Термин «поглощение» определяется как логарифм отношения мощности излучения, падающей на образец, к мощности, передаваемой через образец [42]. Для коллимированного монохроматического падающего излучения со спектральной шириной полосы, которая является узкой по сравнению со спектральной шириной линии в спектре и однородных изотропных средах, Поглощение определяется законом Бугера-Бера-Ламберта и пропорционально длине пути поглощения l и концентрации c поглощающих частиц [32]. Закон Бугера-Бера-Ламберта справедлив только для монохроматического спектрально узкого излучения, где он позволяет рассчитать спектральное поглощение (то есть поглощение на определенной длине волны).Он используется в [4,21,30,31] для определения индуцированного облучением спектрального поглощения на определенных длинах волн. Измерения оптической плотности широко используются для характеристики оптических откликов облученных полимерных пленок на определенных длинах волн.

    Мы, однако, пытаемся определить полное поглощение, вызванное облучением. Чтобы сделать это с помощью таких измерений и использования закона Бугера-Бера-Ламберта, необходимо найти и проинтегрировать значения спектрального поглощения на всех длинах волн, где есть изменения в интенсивности света, прошедшего через полимер после облучение.Мы не нашли в литературе указаний на то, как этого можно достичь. Наш метод вычитания исходной кривой пропускания из каждой из кривых пропускания облучения является более прямым способом определения полного индуцированного облучением поглощения в ПЭТ-пленках, который позволяет обойтись без необходимости рассчитывать индивидуальные спектральные оптические плотности по всем длинам волн. Отметим, что наш метод работает для ПЭТ, поскольку изменение отражательной способности, вызванное облучением, незначительно, поэтому оно выпадает из разностных уравнений. Этого не было бы, если бы облучение действительно приводило к значительным изменениям отражательной способности, как это могло бы случиться с другими материалами.

    Общее поглощение, индуцированное облучением, дается площадями S под кривыми разности индуцированного излучения на рисунке 5. Значение S имеет хорошую линейную зависимость от логарифма облучения для плотностей F в диапазоне (4,5 × 10 10 — 5 × 10 12 ) см −2 при облучении ионами Ar 8+ и в диапазоне (1.6–6,5) × 10 10 см –2 при облучении ионами Kr 15+ , как показано на рисунке 6. Мы измеряем полное поглощение в широком диапазоне длин волн, а не спектральное поглощение на определенной длине волны. Как и в случае с другими парами интегральных / дифференциальных параметров, нет особого противоречия между нашими экспериментальными результатами и измерениями зависимости между спектральным поглощением и плотностью энергии, такими как [4,21,29,30,31], которые обнаружили линейную зависимость между спектральным поглощением и облучение флюенсом на отдельных длинах волн. Сравнение градиентов двух линий S / logF на Рисунке 6 показывает, что влияние ионов Kr 15+ на поглощение света в 2,2 раза [8,52 / 3,93] сильнее, чем влияние ионов Ar 8+ в диапазоне применимости это отношения. Это примерно на 10% выше, чем соотношение потерь энергии этих ионов в пленке ПЭТФ, заданное программой LISE ++ (90,5 МэВ для Kr и 44,5 МэВ для Ar) [43].

    Чтобы понять стабильность этой взаимосвязи, мы провели те же эксперименты и анализ с другой длиной пути ионов, изменив угол падения излучения на 40 ° по нормали и используя три разных заряда ионов Kr 13 + 14 + 15+ , все при более низкой энергии 1.2 МэВ / а.е. Для каждого значения заряда иона использовались три значения плотности энергии: 5 × 10 10 см −2 ; 1 × 10 11 см −2 ; и 2,5 × 10 11 см −2 .

    Спектро-интерферограммы пропускания в УФ-видимой области обрабатывались таким же образом, как описано выше, для удаления интерференционных полос. Мы обнаружили, что линейная зависимость между полным поглощением, индуцированным облучением, и логарифмом плотности потока излучения сохраняется для каждого из использованных зарядов Kr (13 + , 14 + и 15 + ), как показано на Рисунок 7.Точки данных показывают значения S для используемых нами зарядов и флюенсов ионов, а пунктирные линии показывают линейные аппроксимации, основанные на полученных экспериментальных результатах. Рисунок 7 показывает, что при максимальном флюенсе 2,5 × 10 11 см −2 , увеличение заряда с 13 + до 14 + привело к увеличению общего поглощения на 40% из-за большего красного смещения. Когда заряд был увеличен до 15 + , это увеличение составило 60%. Для наименьшего облучения 5 × 10 10 см −2 относительное увеличение полного поглощения с увеличением заряда иона еще более выражено: равно 1.В 7 и 2,2 раза соответственно. Это указывает на значительное влияние не только флюенса излучения, но и заряда тяжелых ионов на положение края поглощения в УФ-видимых спектрах пленки ПЭТФ. Несмотря на это, как хорошо известно, заряд иона не является входным параметром для оценки потерь энергии быстрых тяжелых ионов в программах LISE ++ и SRIM. Экстраполяция линий на рисунках 6 и 7 за пределы экспериментальных точек для пересечения с ось logF дает очень грубую первую оценку нижней границы диапазона применимости этого логарифмического отношения, которое явно не может выполняться для S 9 см -2 для Ar 8+ и 6 × 10 9 см −2 для ионов Kr 15+ и для облучения под углом ионами Kr 13 + 14 + 15 + оценочная нижняя граница применимости находится в диапазоне (3–4) × 10 10 см −2 .Тот факт, что для Ar 8+ логарифмическое соотношение уже не соблюдается при флюенсе 2,25 × 10 10 см −2 (самая низкая точка данных Ar 8+ на рисунке 6), вместе с нашим наблюдением малых эффектов на кривой пропускания для калибровочной плотности энергии Kr 15+ 1,1 × 10 9 см −2 (см. рис. 4b и 5b выше), указывает на необходимость более подробных исследований пленок ПЭТ в условиях низкие плотности энергии излучения. Такие эксперименты могли бы обеспечить более глубокое понимание возникновения красного смещения края поглощения и более точные оценки нижних границ применимости этого метода определения флюенсов излучения по их логарифмическому отношению к S.Приведенные выше результаты согласуются с выводами, сделанными в [18,44], и предоставляют независимые экспериментальные доказательства тому, что в [18], о влиянии заряда ионов на состояние пленок ПЭТ после облучения. На рисунке 8 суммированы наши результаты для облучения под углом, путем нанесения на график значений полного индуцированного излучением поглощения света S для каждого из трех различных зарядов ионов Kr и трех различных плотностей потока излучения. Это показывает, что S увеличивается как с увеличением флюенса, так и с увеличением заряда ионов в пленках ПЭТФ в данном исследовании.

    4. Интерпретация результатов

    Обычно считается, что причиной красного сдвига края поглощения в облученных прозрачных полимерных пленках является процесс карбонизации полимерных молекул под ионным облучением. На это указывается, например, в статье [4] со ссылкой на статью [19], которая, в свою очередь, отсылает читателя к более ранним статьям [30,45]. Стремясь понять зарядовую зависимость наблюдаемого нами красного смещения края поглощения, мы начнем с более подробного анализа объяснений в этих статьях.В работе [45] проведены исследования пленок ПК толщиной около 300 нм, облученных ионами Ar + с энергией 300 кэВ и He + с энергией 300 кэВ с плотностью тока до 200 нА · см −2 и плотностью ионной энергии 5 × 10 13 до 5 × 10 16 см −2 . Наблюдалось увеличение красного смещения края поглощения в УФ-видимых спектрах облученных пленок с увеличением плотности энергии. Это было приписано превращению полимерной пленки в аморфный гидрированный углерод (a-C: H) под действием облучения, поскольку форма края поглощения соответствовала форме края основного поглощения в a-C: H.Плотность энергии, использованная в [45], очень значительно выше (по крайней мере, на два-четыре порядка величины), чем в других экспериментах, описанных во введении, и в наших экспериментах. Ни заряды ионов, ни интенсивности ионных пучков не указаны в [45], но для любых обычных зарядов ионов Ar + и He + эти плотности энергии соответствуют потокам ионных пучков порядка 10 11 см −2 s −1 и выше. Они также очень значительно превышают интенсивность ионных пучков, используемых в других экспериментах, таких как [19,21,29], где использовались потоки порядка 10 8 см −2 с −1 .Хорошо известно, что пропорции электронных и ядерных потерь при взаимодействии между быстрыми тяжелыми ионами и полимерными пленками меняются в зависимости от энергии облучающих ионов. Применение программы SRIM к экспериментальным условиям энергии ионов в [45] показывает, что они характеризуются примерно сопоставимыми пропорциями электронных и ядерных потерь. Более того, аналогичный эксперимент, в котором пленки ПИ облучались ионами N 2 + с энергиями 0,3, 0.6 и 1,0 МэВ, до флюенсов 10 14 –10 17 см –2 [46], показали, что температура образцов во время облучения составляла 300–400 ° C. Такие высокие уровни ионно-ядерного взаимодействия и высокие температуры вполне могут привести к карбонизации облученной пленки PS в экспериментальных условиях, описанных в [45]. Однако в диапазонах энергий, изученных в [4,19,20,27] и в наших собственных исследованиях, ядерные потери пренебрежимо малы по сравнению с электронными. Мы делаем вывод, что объяснение красного смещения края поглощения в [45] не может быть распространено на совершенно другой энергетический режим ионов, изученный нами и упомянутыми выше авторами.Отметим также, что красные сдвиги края поглощения могут происходить без карбонизации, например, в неорганических пленках: в [47] сдвиг обнаружен в тонких аморфных пленках As 2 Se 3 и Se, а также в кристаллических PbI 2 при облучении ионами He + и Ar + . В работе [48] изучены эффекты в скрытых треках в пленках PI после облучения на воздухе ионами Ar + 15 с энергией 22,5 МэВ / а.е. с плотностью флюенса 8 × 10 11 см −2 . Авторы наблюдали изменение цвета пленок при облучении, связанное с потерей кислорода и азота с одновременным обогащением углерода. В центре обсуждения в этом исследовании было наблюдение новых пиков, вызванных излучением, на кривой пропускания и их поведения при изменении плотности энергии, а не красное смещение края поглощения. В [30] авторы наблюдали увеличивающийся сдвиг края поглощения от УФ к видимому свету по мере увеличения экспозиции облучения и со ссылкой на [45] приписали это карбонизации материала под облучением, указав, что этот процесс, по-видимому, происходит в центральная часть скрытых следов.В [19] потемнение цвета пленок PI описывается как переход от янтарного к «темному графиту», предполагая, что изменение цвета происходит из-за карбонизации. Однако изменение цвета не является надежным индикатором карбонизации. Любое тело (включая полимерную пленку) с любым механизмом поглощения будет выглядеть черным, если оно сильно поглощает: почернение не обязательно должно быть связано с карбонизацией. Точно так же повышенное пожелтение цвета [20] ПЭТ-пленки под облучением не влияет. подразумевают карбонизацию.Желтый и пурпурно-синий являются дополнительными цветами [49,50,51,52], поэтому истощение коротковолновых УФ-синих компонентов спектра пропускания изначально прозрачной ПЭТ-пленки приведет к пожелтению, интенсивность которого меняется в зависимости от степень истощения проходящего света. Пожелтение облученной пленки показывает, что край поглощения сдвигается в сторону красного от ультрафиолета в сторону более длинных волн, но не объясняет его причину. Из этого обзора предыдущих работ очевидно, что нет удовлетворительного объяснения эффекта красного смещения в полимерные пленки под воздействием быстрого облучения тяжелыми ионами для условий экспериментов, используемых нами (и многими другими).Принятое объяснение карбонизации имеет надежную основу только в экспериментах [45], которые были выполнены в совершенно ином энергетическом режиме ионов со значительной ядерной составляющей взаимодействия, в отличие от режима наших экспериментов, где электронное взаимодействие доминирует. Пленки ПЭТФ в изучаемом нами режиме наблюдаемые эффекты можно объяснить на основе существующих знаний о взаимодействии ионов с веществом и молекулярной структуре полимеров. Мы исходим из того, что дельта-электроны, которым приписывают все наблюдаемые эффекты в облученных полимерных пленках, не единственные электроны, участвующие в этих взаимодействиях.В своей основополагающей работе [53] Бете и Ашкин заявляют: «Энергичная тяжелая заряженная частица, проходя через вещество, производит ионизацию, способствующую потере энергии двумя способами. При первичном столкновении с электронами в атоме наиболее вероятными из ионизирующих столкновений являются те, при которых относительно медленный вторичный электрон выбрасывается с кинетической энергией, меньшей, чем потенциал ионизации. Однако меньшая часть ионизирующих столкновений производит вторичные электроны относительно высокой энергии… так называемые дельта-лучи ».Следовательно, когда заряженный ион проходит через полимерную пленку, конечная концентрация электронов в ядре вокруг оси скрытого трека будет определяться отношением дельта-электронов, покидающих эту зону (и теряющихся в периферийной внешней оболочке трека) к медленные электроны втягиваются в ядро ​​полем проходящего иона. Поскольку дельта-электроны составляют меньшую долю, мы можем разумно ожидать, что вклад медленных электронов в окончательное перераспределение заряда будет преобладать.Возникающая в результате избыточная концентрация электронов в сердцевине трека и обеднение электронами периферийной внешней оболочки и соответствующее перераспределение по уровням энергии должны быть обнаружены в спектрах пропускания в УФ и видимой областях облученной пленки. Данные, накопленные после открытия Эффект электрета в полимерных пленках в 1960-х годах, включая ПЭТ, и широкое использование полимерных электретов в коммерческих целях позволяет понять лежащие в основе физические процессы. Существующее объяснение поведения полимеров в отношении их электретных свойств основано на использовании модифицированной модели энергетических зон.Согласно этой модели, заряды в полимерах могут храниться как в объеме электрета (глубокие ловушки), так и в поверхностных ловушках на мелкой поверхности. Поверхностные ловушки (делокализованные состояния с энергиями от 0,02 до 0,87 эВ) связаны с химическими включениями и примесями, специфическими дефектами поверхности, разорванными связями, адсорбированными молекулами и различиями между материалом поверхности и объема. Глубокие ловушки (локализованные состояния с энергией более 2 эВ) связаны с тремя уровнями структурного захвата заряда. Первый уровень расположен в группах атомов (например, ароматических группах) в молекулярных цепочках, второй уровень расположен между группами атомов в соседних молекулах, а третий связан с кристаллическими областями или кристаллически-аморфными границами.Поскольку ПЭТ является полукристаллическим материалом, эти ловушки могут быть разными в разных молекулярных областях материала, и их глубина может соответственно меняться. В электретных материалах участие мелких ловушек в захвате и накоплении заряда мало по сравнению с вкладом глубоких ловушек, но мелкие ловушки играют критическую роль в переносе заряда [54]. Для глубоких ловушек в ПЭТ значения энергии фотоактивации было найдено около 4 эВ или более. Ловушки с такими энергиями возбуждения являются основными для накопления и длительного удержания дополнительных электронов при образовании электретов.Они связаны с ароматическими группами в полимерной пленке и ответственны за экспериментально наблюдаемую зону сильного поглощения света в ближней УФ-области с краем поглощения на длинах волн более 300 нм [35]. Из экспериментов по фотопроводимости ПЭТ-пленок Lumirror ® авторы также обнаружили, что в результате внутреннего фотоэлектрического эффекта фототок возникает на длинах волн ≤320 нм, причем электроны являются преобладающими носителями. В работе [35] также было обнаружено, что край поглощения, наблюдаемый в спектре пропускания исходной пленки ПЭТФ, уже является результатом красного смещения пиков поглощения π – π * -переходов в бензольных кольцах повторяющихся звеньев ПЭТФ. цепная молекула.Сдвиг вызван резонансом π-орбиталей с двумя карбонильными группами, непосредственно присоединенными к бензольному кольцу, образуя протяженную сопряженную систему, которая стабилизирует делокализованные дополнительные электроны внутри него и объясняет сильный и стабильный электретный эффект в ПЭТ. Кроме того, были обнаружены ловушки с глубиной 2,85 эВ [55] и 2,3 эВ [56]. Различные проведенные исследования хорошо согласуются с данными о глубоких ловушках, что и следовало ожидать, поскольку они зависят от от молекулярной структуры полимера. Например, рис. 5 ясно показывает, что почти все радиационное поглощение в пленках ПЭТФ происходит в диапазоне энергий от 2 до 4 эВ (600–300 нм). Это говорит о том, что верхняя энергия медленных электронов, ответственных за красное смещение, вызванное облучением, составляет около 4 эВ. Данные по мелким ловушкам показывают меньшее согласие, что можно понимать как отражение различий в технологических добавках в ПЭТ-пленках от разных производителей. Тем не менее считается, что ловушки с энергией активации 0.74 эВ связаны с релаксационными колебаниями карбоксильных групп [57], а ловушки 0,23–0,5 эВ связаны с перемещением сложноэфирных групп [58,59]. Энергия активации подвижности носителей заряда в ПЭТ, которая согласно [60] составляет около 0,3 эВ, находится в том же диапазоне.

    Теперь мы обратим наше внимание на два важных вопроса: как электрическое поле, создаваемое быстрым тяжелым ионом в ПЭТ, сравнивается с полем, используемым для производства и исследования электретов; и насколько далеко от оси скрытого трека иона это поле остается достаточно сильным, чтобы смещать медленные электроны в направлении оси (т. е.е., достаточно для обеспечения энергии активации подвижности электронов 0,3 эВ), которая обеспечивает меру диаметра скрытого трека.

    Мы можем оценить напряженность электрического поля следующим образом. Используя [4,40] для оценки показателя преломления n пленки ПЭТ как n = 1,6, соотношение ε = n 2 [61] между n и диэлектрической проницаемостью ε дает значение ε = 2,5 для пленки ПЭТ. Для иона с зарядом +15 и фактором Лоренца ~ 10 -2 мы можем использовать закон Кулона для оценки напряженности электрического поля как 25 В / мкм на расстоянии 20 нм от оси трека, что — напряженность поля, использованная в [62] для формирования пленок электретного ПЭТФ.Для начальной части пути иона (то есть до того, как он потеряет значительный заряд), диаметр области вокруг скрытой оси трека, где медленные электроны смещаются к оси, составляет около 100 нм. В качестве значения диаметра скрытого трека это довольно хорошо коррелирует как с опубликованными данными, полученными на основе измерения скорости радиального травления скрытых треков [24], так и с нашими предыдущими рентгеновскими оценками [18].

    По статистике, начало перекрытия скрытых треков начинается с перекрытия периферийных внешних оболочек треков, которые обеднены электронами.Следовательно, трек, который перекрывает существующий, будет иметь меньшую электронную плотность. По мере увеличения степени перекрытия возрастает вероятность того, что периферийная внешняя оболочка новой дорожки будет перекрываться с богатой электронами внутренней сердцевиной существующей. Однако это не сделает больше электронов доступными для захвата новой дорожкой, потому что эти электроны внутреннего ядра удерживаются в глубоких ловушках. Поскольку вероятность перекрытия скрытых треков увеличивается с увеличением плотности потока ионов, более поздние ионы будут оказывать все более слабое влияние на электронные подсистемы полимерной пленки.Обнаруженная логарифмическая зависимость между плотностью энергии и индуцированным излучением полным оптическим откликом ПЭТ-пленки подтверждает это.

    Формально экспериментальную зависимость между плотностью энергии F и полным оптическим поглощением S можно выразить уравнением: где N и F 0 — константы. Это уравнение является решением дифференциального уравнения: который показывает, что изменение общего светопоглощения dS обратно пропорционально F. Другими словами, чем дольше продолжается облучение, тем меньше становится дополнительное изменение общего светопоглощения облученной пленки ПЭТ.Этот пониженный отклик указывает на уменьшение потерь энергии быстрых тяжелых ионов, проходящих через пленку, по мере увеличения плотности энергии. В исследованиях электретов обычно используется термостимулированный разряд (отжиг) для исследования высвобождения зарядов из ловушек в предварительно заряженных электретных пленках. [54]. Тепловая стимуляция заставляет метастабильные состояния двигаться в сторону их состояния термодинамического равновесия. В нашей экспериментальной ситуации он должен предоставлять информацию о том, где медленные электроны были захвачены после ионного облучения и куда они перемещаются, когда они захватываются нагреванием.Образец пленки ПЭТ, облученный под углом 40 ° ионами Kr 13+ с энергией 1,2 МэВ / а. е. и флюенсом 5 × 10 10 см −2 , отжигался в течение 160 ч при температуре ниже температура стеклования и отсутствие доступа воздуха и света для стимуляции теплового разряда зарядов из ловушек. Спектр пропускания в УФ и видимой области после отжига сравнивался со спектром ранее, и разностный спектр для этого образца показан на рис. 9.

    Это показывает заметное увеличение прозрачности пленки после отжига при энергии фотонов 3.5–4 эВ (350–310 нм) с резким пиком чуть ниже 4 эВ (313 нм) в результате термостимулированного снятия ловушки заряда. Также наблюдается уменьшение прозрачности при более низких энергиях фотонов (<3 эВ) с рядом небольших локальных пиков.

    Единственными ловушками в цепных молекулах ПЭТ с энергией 4 эВ являются ловушки, связанные с бензол-карбоксильными комплексами. Рисунок 9 дает четкое подтверждение того, что медленные электроны захватываются самыми глубокими молекулярными ловушками в сердцевине скрытых треков. Это также подтверждает существование внутреннего обогащенного электронами остова и периферической обедненной электронами зоны в скрытых треках. Точка, в которой нет изменения передачи (~ 3,6 эВ на Рисунке 9), может быть принята как индикатор границы между этими двумя областями на скрытых дорожках. Используя нашу оценку ε = 2,5, для начальной части пути иона мы можем оценить радиус границы внутреннего ядра примерно в 4 нм. Разные облучающие ионные заряды будут иметь разные электрические поля, что приведет к разному распределению электронов в их скрытых треках и разным оценкам радиусов сердцевины и периферийных зон.Это позволяет качественно понять наблюдаемую зависимость красного смещения края поглощения в пленках ПЭТ от заряда ионов. Наблюдаемое перераспределение электронов, высвобождаемых при нагревании из наиболее глубоких молекулярных ловушек в малом объеме электронно-обогащенного остова и перемещающихся в более мелкие ловушек в гораздо большей объемной обедненной электронами периферийной зоне, свидетельствует о том, что этот метод ионного облучения и отжига предлагает новые средства изучения спектра ловушек в полимерных пленках. Обе известные ловушки ПЭТ на 2.3 эВ [56] и 2,85 эВ [55] можно увидеть на рисунке 9, который показывает четко выраженный пик роста поглощения между 2,22–2,36 эВ с максимумом при 2,3 эВ и более слабый при 2,84–2,89 эВ с максимум при 2,86 эВ. Однако спектр полос поглощения на рисунке 9 значительно богаче и показывает, например, наличие еще трех пиков поглощения между 2,3 и 2,7 эВ и одного при 1,7–1,8 эВ с максимумом 1,73 эВ, ни один из которых , насколько мы можем установить, ранее наблюдались.Подробное обсуждение структуры ловушек, доступных для захвата электронов в пленке ПЭТ, не является предметом данной статьи, но мы намерены посвятить этому интересному и важному вопросу отдельное исследование. Мы использовали подробно описанный рентгеновский метод. в [16,17,18], чтобы подтвердить, что, несмотря на высвобождение электронов из ядра скрытых треков в периферическую зону, спиральные структуры, сформированные после облучения, остаются стабильными. На рисунке 10а показана рентгеновская дифрактограмма того же образца пленки ПЭТ, чей разностный спектр пропускания в УФ-видимой области показан на рисунке 9, сделанная сразу после облучения (ионами Kr 13+ с энергией 1. 2 МэВ / а.е. под углом 40 ° и флюенсом 5 · 10 10 см −2 ). Как описано выше, после ионного облучения был снят УФ-видимый спектр до и после отжига образца в течение 160 часов. Затем образец возвращали в установку для отжига и отжигали в тех же условиях в течение еще 340 часов (всего 500 часов). На рисунке 10b показана дифрактограмма рентгеновских лучей образца ПЭТ после этого второго периода отжига при температуре, близкой к температуре стеклования.Сравнение этих рентгеновских дифрактограмм ясно показывает сохранение признаков упорядочения [16] и спирализации [17] после длительного отжига. Это хорошее свидетельство стабильности межмолекулярного диполь-дипольного взаимодействия бензол-карбоксильных звеньев в пленках ПЭТФ после облучения быстрыми тяжелыми ионами. Наконец, мы рассмотрим, несмотря на отсутствие непосредственно очевидной связи, красное смещение края поглощения в облученных пленках ПЭТ, описанные в этой статье, могут быть связаны с упорядочением после облучения и спирализацией молекулярной структуры, описанной в [16,17,18]. Вернемся к безинтерференционным кривым пропускания в УФ-видимой области T α (λ), показанным на рисунке 4. На рисунке 11 показаны первые производные dT α (λ) / dλ этих кривых, полученные численным дифференцированием (как было сделано в [19]). Эти производные дают более четкую картину динамики из-за подавления дифференцированием влияния медленно изменяющихся компонентов в исходных функциях передачи. Дифференцирование спектральных функций давно успешно используется в модуляционной спектроскопии для обнаружения и изучения слабо выраженных процессов на фоне общего сильного поглощения.Классическим примером является разрешение инфракрасного дублета 4,25 нм и 4,28 нм молекулы CO 2 путем дифференцирования широкой и медленно меняющейся линии поглощения [63]. Производные на рисунке 11 показывают наличие двух мод, которые ведут себя по-разному: экспозиция облучения увеличивается и отражает различные процессы (небольшой изгиб на всех кривых при 320 нм является экспериментальным артефактом, возникающим в результате смены освещающей лампы в нашем спектрофотометре). При облучении ионами Ar и Kr узкий пик, видимый на исходном изображении. Пленка ПЭТ с полушириной в диапазоне длин волн 309–316 нм и максимумом при 312 нм остается на том же месте в спектре после облучения, что указывает на устойчивость физического процесса, лежащего в основе, к облучению.Принимая во внимание описанные выше результаты исследований электретных свойств пленок ПЭТФ, можно сделать вывод, что этот пик обусловлен фотоактивностью сопряженных систем бензол-карбоксильных комплексов в повторяющемся звене цепных молекул ПЭТФ [35]. Интенсивность этого узкого пика быстро падает по мере увеличения экспозиции облучения, показывая, что активность этих конъюгированных групп уменьшается с увеличением флюенса облучения. На Рисунке 11 также показано появление под облучением очень широкого сплющенного второго пика, которого нет в первозданный фильм.Он распространяется на длины волн за пределы примерно 330 нм до пределов наблюдения нашего устройства и растет и смещается в сторону более длинных волн по мере увеличения плотности энергии. Объяснение этому можно найти в исследованиях Бриттоном многих природных пигментов [64], включая хиноны, к которым присоединены ароматические и карбонильные группы. Бриттон показывает, что стабильность сопряженных систем возрастает с увеличением их длины и, как следствие, повышенной делокализацией электронов и снижением энергии возбуждения, так что пик поглощения света перемещается из ближней УФ-области в видимую по мере увеличения размеров сопряженных систем.Этот эффект максимален для компланарных сопряженных систем. Когда сопряженные системы соседних молекул находятся достаточно близко друг к другу, между ними могут происходить межмолекулярные электронные взаимодействия, приводящие к образованию различных возбужденных электронных уровней энергии. Как и в [49,50,51,52], Бриттон объясняет цвета пигментов тем, что они обусловлены поглощением света на длинах волн, соответствующих дополнительным цветам. Описано хорошо известное различие в краю поглощения первичных пленок из PI и PET. в нашем введении согласуется с этим объяснением, так как сопряженная система в PI намного больше, чем в PET [29]. Более того, с помощью дифракции рентгеновских лучей и квантово-механических расчетов было показано, что единственное сопряженное бензол-карбоксильное звено повторяющегося звена цепной молекулы ПЭТФ стабильно копланарно даже в мономере [65,66,67,68, 69]. На рисунке 10 (выше) показана стабильность как внутримолекулярного радиального упорядочения бензол-карбоксильных звеньев в латентных треках после облучения, так и межмолекулярных спиральных структур, возникающих в результате этого упорядочения, когда флюенс увеличивается и треки начинают перекрываться [16 , 17].Стабильность этих спиральных структур в облученных пленках ПЭТФ означает, что диполь-дипольная связь между бензол-карбоксильными звеньями в соседних цепных молекулах ПЭТФ является стабильной и может рассматриваться как химическая связь, составляющая часть хорошо известного эффекта сшивки в облученных пленках (см., например, [25]). Образование таких спиральных структур приводит к увеличению длины протяженных систем сопряженных связей, что, как показано в [69], приводит к красному смещению края поглощения. Теперь мы можем интерпретировать результаты на Рисунке 11 следующим образом. Уменьшение интенсивности острого пика при 312 нм с увеличением плотности потока энергии связано с уменьшением количества конъюгированных бензол-карбоксильных комплексов, поскольку они постепенно связываются с другими в процессе спирализации с образованием более крупных протяженных сопряженных систем. При достаточно высоких флюенсах пик почти полностью подавлен, что согласуется с нашим предположением [18], что при высоких флюенсах имеет смысл говорить о диполь-дипольной сшитой облученной пленке, а не о сумме отдельные перекрывающиеся треки.

    Дешевые рейсы Екатеринбург — Дубровник

    [Хорватия] Существуют ограничения на поездки для пассажиров, вылетающих из выбранной вами страны вылета. Пожалуйста, ознакомьтесь с полной информацией о ваших ограничениях на поездки перед бронированием. Опубликовано 12.02.2021

    1. Пассажирам запрещен въезд до 28 февраля 2021 года.

    Это не относится к:
    — гражданам Андорры, Австрии, Бельгии, Болгарии, Хорватии, Кипра, Чехии, Дании, Эстонии, Финляндии, Франции, Германии, Греции, Венгрии, Исландии, Ирландии (респ. ), Италии, Латвии, Лихтенштейна, Литвы, Люксембурга, Мальты, Монако, Нидерландов, Норвегии, Польши, Португалии, Румынии, Сан-Марино, Словакии, Словении, Испании, Швеции, Швейцарии и Ватикана (Святой Престол) и членов их семей;
    — пассажиры с долгосрочным видом на жительство или долгосрочной визой «D», выданной Австрией, Бельгией, Болгарией, Хорватией, Кипром, Чехией, Данией, Эстонией, Финляндией, Францией, Германией, Грецией, Венгрией, Исландией, Ирландией (Респ. .), Италия, Латвия, Лихтенштейн, Литва, Люксембург, Мальта, Нидерланды, Норвегия, Польша, Португалия, Румыния, Словакия, Словения, Испания, Швеция или Швейцария;
    — пассажиры, въезжающие в Хорватию для транзита по суше в третью страну с максимальным пребыванием 12 часов.Они должны доказать, что могут въехать в страну назначения;
    — пассажиры, путешествующие по делам с пригласительным письмом от компании из Хорватии;
    — дежурные пассажиры с дипломатическим паспортом;
    — пассажиры, путешествующие студентами;
    — моряки-купцы;
    — военнослужащие.

    2. Паспорта и национальные удостоверения личности, выданные гражданам Хорватии, срок действия которых истек 11 марта 2020 года или позднее, считаются действительными.
    3. Пассажиры, прибывающие из Бразилии, Южной Африки или Великобритании, должны иметь медицинскую справку с отрицательным результатом ПЦР-теста на коронавирус (COVID-19), выданную не позднее, чем за 48 часов до прибытия.Они подлежат самоизоляции на 14 суток.
    4. Пассажиры, прибывающие из страны, отличной от Бразилии, Южной Африки или Великобритании, без медицинской справки с отрицательным результатом ПЦР-теста на коронавирус (COVID-19), выданной не позднее, чем за 48 часов до прибытия, должны пройти ПЦР-тест по прибытии. собственный счет и самоизоляция; подробности можно найти на https://mup.gov.hr/uzg-covid/english/286212.
    5. По прибытии необходимо предъявить заполненную форму «Въезд в Хорватию».Анкету можно отправить онлайн перед вылетом по адресу https://entercroatia.
    mup.hr/.
    • Это не относится к гражданам и резидентам Хорватии.
    6. По прибытии необходимо предоставить заполненную «Форму поиска пассажира». Форму можно найти по адресу: https://static.vueling.com/corporative7/media/1167/passengerlocatorform-en-icao.pdf.
    • Это не относится к гражданам и резидентам Хорватии.
    7. Для получения дополнительной информации посетите веб-сайт https: // mup.gov.hr/uzg-covid/english/286212.

    https://covidcontrols.co/

    Slackline Croatia, Vis

    Slackline Croatia, Vis Добавить Отмена gps_fixed

    Подводный гараж на острове Вис, Рогачич.

    любимый мелодия 1

    • настраивать Поиск по категории
    • рядом со мной Slackspots поблизости
    • что Откройте для себя горячие точки

    Горячие точки


    В настоящее время наши любимые споты Slackline! Свяжитесь с нами, если вы считаете, что ваше место тоже должно быть здесь.

    что Горячие точки место Рядом палец вверх Ваше избранное

    Новые сообщения


    Найдите последние комментарии о вашем ролике и роликах, на которые вы подписаны.

    Показать все

    Последние


    Найдите здесь ролики, которые были недавно загружены. Отчет

    World Finals 2014 — ACM ICPC @ ETH Zurich

    Даниэль Граф — Путешествие и решение проблем

    Этим летом я был в числе троих счастливчиков, которые представляли ETH на мировом финале ACM ICPC (Международное студенческое соревнование по программированию). Мы соревновались с 120 лучшими командами со всего мира и провели три увлекательных недели в России.

    «Добро пожаловать в сердце России. Добро пожаловать в Екатеринбург. Город с 1,5 миллионами жителей и более чем 300-летней историей. […] Екатеринбург — уникальный мегаполис. На границе Европы и Азии мы взяли все самое лучшее с востока и запада. […] Это место, где можно стать чемпионом ACM ICPC 2014. Добро пожаловать! »

    Вот так нас и весь зал, полный возбужденных молодых студентов, изучающих математику и информатику, встретили на довольно эпической церемонии открытия.Он был полон зрелищных танцев, оркестровой музыки, а также включал в себя классное видео, которое я только что процитировал. Даже Винт Серф появился — в виде видеообращения в стиле Джор-Эла. Так как мы туда попали?

    ETH-Team (слева направо): Даниэль Граф, Никола Джокич, Ян Хозла (тренер), Владимир Сербиненко (тренер), Йоханнес Капфхаммер (Изображение: Боб Смит, Ханс Домьян, ACM ICPC)

    Не просто летают в Россию
    Еще в ноябре 2013 года я объединился с двумя студентами-математиками в ETH, Николой Джокичем и Йоханнесом Капфхаммером. На региональном конкурсе Юго-Западной Европы в Испании нам удалось занять второе место и пройти в мировой финал этого года. В течение весеннего семестра мы тренировались две недели. Устроиться в ежедневных пятичасовых соревнованиях между лекциями было непросто, но оно того стоило. Как и в предыдущие годы, тренинг организовали комитет ACM VIS и тренеры ИТМО — бывшие чемпионы мира из Санкт-Петербурга. Мы также посетили и выиграли конкурс Helvetic Coding Contest на EPFL, который, вероятно, является самым интересным соревнованием по программированию в Швейцарии.У них всегда есть какие-то крутые, нестандартные проблемы. Например, в этом году мы решили одну из задач с фильтром Блума.

    Итоговая тренировка в Санкт-Петербурге
    Чтобы быть в хорошей форме к финалу, мы на десять дней раньше приехали в Россию и приняли участие в летней школе олимпиад по программированию, организованной ИТМО в Санкт-Петербурге. Помимо ежедневных конкурсов и лекций, мы исследовали этот чудесный город, который часто называют Северной Венецией. Красивые каменные здания, реки и каналы повсюду, а также множество соборов и памятников делают его жемчужиной.В отчете Роберта с последнего финала уже перечислены все лучшие достопримечательности, и я могу только согласиться. Мы часами ходили в галереи Эрмитажа и получали билеты на выпускной спектакль балета в Мариинском театре. Город также является вечным домом царя Петра Великого, композитора Петра Ильича Чайковского и, что может немного удивительно, Леонарда Эйлера, который провел здесь последние годы своей жизни и теперь покоится в очень скромной могиле.

    В последний день мы посетили офисы Яндекс — крупнейшей поисковой системы и интернет-компании в России.Меня часто называют «русским Google», и было интересно увидеть множество поразительных сходств, но также и различия в том, как он работает, как меблированы его офисы и как он пытается стимулировать образование в области информатики в России. Вечером в Санкт-Петербурге праздновали Алые паруса, где все мосты раскрылись, и исторический корабль с алыми парусами курсировал по Неве в окружении гигантского салюта. Было приятно увидеть Белые ночи, время года, когда ночное небо кажется вечным рассветом.Это означало, что фейерверк начался только в 1:30. Но мы и один-два миллиона местных жителей не прочь остаться до тех пор.

    Екатеринбургский городской пруд с конференц-центром «Космос» и церковью на крови

    Конкурс в Екатеринбурге
    После трехчасового перелета на восток мы приземлились в Екатеринбурге, конечной точке нашего путешествия. Город был завален гигантскими рекламными щитами ICPC, а для проведения конкурса был подготовлен целый конференц-центр и баскетбольная арена.Первые два дня были заполнены подготовкой, церемонией открытия, некоторыми лекциями IBM и заключительным пробным запуском, так называемой генеральной репетицией.

    И вот настал день, к которому мы все тренировались: пять часов, двенадцать задач и огромное количество воздушных шаров, ожидающих раздачи. Если вам интересно, для чего нужны воздушные шары: как только команда решает задачу, к их столу прикрепляется воздушный шарик соответствующего цвета, чтобы отмечать их прогресс. Но в этом году было решено всего три задачи более чем парой команд, а четыре задачи вообще не решались.Так что даже в конце конкурса облако воздушных шаров над нашими головами было довольно редким. Нам удалось решить две задачи, которые поставили нас в середину рейтинга. Победа снова была одержана между лучшими университетами России: Санкт-Петербургский государственный университет обыграл МГУ. Они шли лицом к лицу до самого конца, оба решали задачи за последние десять минут, и оба закончили с выполнением семи задач, так что набранное штрафное время должно было определить победителя.Третье место занял Пекинский университет, за ним следует Тайваньский национальный университет, решившие по шесть задач.

    Чемпионат ACM ICPC 2014 от СПбГУ

    Город последнего царя
    В дни, прошедшие после конкурса, мы нашли время, чтобы исследовать Екатеринбург. В музее изобразительных искусств есть гигантский чугунный павильон, который представлял Россию на всемирной выставке 1900 года, а также многие минералы Уральского региона. Екатеринбург также является домом для некоторых странных архитектурных рекордов: 220-метровая телебашня считается самым высоким постоянно незавершенным сооружением в мире, а Высоцкая башня — самым северным небоскребом в мире.Вдоль городской реки стоит большой бетонный памятник с QWERTY-клавиатурой размером 16 на 4 метра, который когда-то посещал профессор Никлаус Вирт. Еще более странным было городское кладбище мафии. Во время войны с мафией в России в 1990-х для мафиози построили огромные надгробия с изображениями в натуральную величину.

    В российской истории Екатеринбург в основном запомнился как город, где в 1918 году большевиками была зверски убита семья последнего царя Николая II. На этом месте был воздвигнут «Храм на крови», который сейчас является одной из многих достопримечательностей. города.

    Мы также посетили Ганина Яма, русский православный монастырь и место паломничества, находящееся примерно в часе езды от города. Комплекс из нескольких деревянных церквей с золотыми колокольнями в окружении густого леса — это очень запоминающееся место.

    Добавить комментарий

    Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *